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正業(yè)半導(dǎo)體芯片缺陷自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)
正業(yè)科技多年聚焦檢測(cè)領(lǐng)域,專(zhuān)注X光檢測(cè)創(chuàng)新技術(shù)解決方案,技術(shù)成熟,經(jīng)驗(yàn)豐富,針對(duì)這一行業(yè)痛點(diǎn),和半導(dǎo)體公司已開(kāi)展合作,開(kāi)發(fā)全新的自動(dòng)檢測(cè)解決方案,頂替進(jìn)口單機(jī)設(shè)備。
要實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測(cè),對(duì)檢測(cè)的效率及自動(dòng)識(shí)別的能力及算法提出更高的技術(shù)要求,經(jīng)過(guò)項(xiàng)目組的努力,目前已經(jīng)取得突破性進(jìn)展,半導(dǎo)體芯片缺陷自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)的識(shí)別功能及關(guān)鍵檢測(cè)指標(biāo)已得到客戶(hù)的認(rèn)可,即將推出自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備,未來(lái)將為更多的半導(dǎo)體客戶(hù)解決檢測(cè)的難題,助力行業(yè)發(fā)展!
目前半導(dǎo)體芯片缺陷類(lèi)型:
有線(xiàn)脫焊、塌線(xiàn)、跪線(xiàn)、弧度低、斷頸、平頸、多die、弧度高、多余線(xiàn)、重復(fù)焊線(xiàn)、無(wú)線(xiàn)脫焊、頸部受損、膠水厚、線(xiàn)尾長(zhǎng)、球厚/球大/球畸形等。
▲良品及部分缺陷類(lèi)型
暫無(wú)數(shù)據(jù)!