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MDPinline是一種用于快速定量測量載流子壽命并集成掃描功能的檢測儀。通過工廠安裝的傳送帶將晶圓片移至儀器，在不到一秒的時間內，就可以“動態(tài)”測量出晶圓圖。
該儀器本身不使用機械運動部件，因此在連續(xù)操作下也非常可靠。它為每個晶圓片提供完整的拓撲結構，這為提高生產線的成本效益和效率提供了新的途徑，而這些都是迄今為止無可比擬的。例如，在不到3個小時的時間內，對10000個晶圓片的拓撲結構進行自動統(tǒng)計評估，結果可以顯示出晶體生長爐的性能和材料質量的各種細節(jié)。
實時的質量檢測可以幫助提高和優(yōu)化諸如擴散和鈍化等處理步驟。在運行的生產過程中，MDPinline可以立即檢測到某個處理步驟的任何故障，從而使產品達到**的性能。
Si3N4 and SiC segregates in multi-crystalline silicon Microcrystalline inclusions Investigation of passivation quality... Cz-Si with bulk defects， separation...
在不到一秒的時間內，可對一個晶圓片進行全電特性測試。測量參數：載流子壽命(拓撲圖)、電阻率(雙線掃描)。
在非常短的時間內獲得數以千計的晶圓片的統(tǒng)計信息可有效地幫助晶圓廠控制過程和生產。
適用于測量晶圓片的材料質量，以及識別晶圓片層面的結晶問題，例如在光伏行業(yè)。
適用于擴散過程的完整性控制、鈍化效率和均勻性控制。
Multicrystalline silicon wafers
允許單片控制
參數自動設置，預定義的排序菜單
多達15個質量等級的晶圓片自動分揀
監(jiān)控材料質量、工藝的完整性和穩(wěn)定性
快速提升工藝和生產線
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