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布魯克D8達芬奇X射線衍射儀
型號:D8 Advance
產地:德國
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過全新的TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點光源應用(織構、應力、微區(qū))的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司提供全球保證!
先進的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答復提高設備的使用效率， 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。
技術指標:
Theta/theta 立式測角儀
2Theta角度范圍:-110～168°
角度精度:0.0001度
Cr/Co/Cu靶，標準尺寸光管
探測器:林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器
儀器尺寸:1868x1300x1135mm
重量:770kg
應用
物相定性分析
結晶度及非晶相含量分析
結構精修及解析
物相定量分析
點陣參數精確測量
無標樣定量分析
微觀應變分析
晶粒尺寸分析
原位分析
殘余應力
低角度介孔材料測量
織構及ODF分析
薄膜掠入射
薄膜反射率測量
小角散射
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