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面議型號(hào)
國(guó)產(chǎn)型號(hào)飛納 ProX品牌
飛納產(chǎn)地
中國(guó)樣本
暫無探測(cè)器：
BSD, SED (可選), EDS加速電壓：
4.8kV-20.5kV連續(xù)可調(diào)電子槍：
CeB6電子光學(xué)放大：
350,000X光學(xué)放大：
27-160X分辨率：
6nm看了國(guó)產(chǎn)飛納掃描電鏡能譜一體機(jī) ProX的用戶又看了
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國(guó)產(chǎn)型號(hào)飛納電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX 臺(tái)式掃描電鏡引入了全新一代操作系統(tǒng)，通過改進(jìn)光路設(shè)計(jì)，將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升級(jí)，易于操作，元素分析更快速。
國(guó)產(chǎn)型號(hào)飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)Phenom ProX是**的集成化成像分析系統(tǒng)。借助該系統(tǒng)，既可觀察樣品的表面形貌，又可分析其元素組分。
研究樣品時(shí)，得到樣品的形貌信息只是解決了一半問題。獲得樣品的元素組分信息往往也是非常必要的。借助全面集成、特殊設(shè)計(jì)的能譜探測(cè)器，飛納電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX 可以完善解決上述所有問題。
能譜儀是一種基于樣品被電子束激發(fā)而產(chǎn)生 X 射線的分析儀器。Phenom 的能譜儀無論軟件、硬件都是完全集成設(shè)計(jì)在飛納電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX 系統(tǒng)中。
Element Identification (EID) 軟件可以使用戶實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)分析，檢測(cè)樣品的元素組分。此外，該軟件還可以擴(kuò)展到
元素分析線面掃（mapping）功能。分步操作界面可以幫助用戶更方便地收集、導(dǎo)出分析數(shù)據(jù)。
目前，飛納電鏡在中國(guó)已經(jīng)有 2000+ 用戶，為了更好地服務(wù)中國(guó)客戶，飛納電鏡將部分掃描電鏡生產(chǎn)線引入中國(guó)，在廣州工廠實(shí)現(xiàn)本土化制造！國(guó)產(chǎn)型號(hào)飛納電鏡依然保持飛納電鏡原有的分辨率和性能，給廣大客戶提供**的國(guó)產(chǎn)臺(tái)式掃描電鏡解決方案！國(guó)產(chǎn)型號(hào)飛納電鏡（廣州工廠制造），目前火熱預(yù)定中
暫無數(shù)據(jù)！
今年 11 月 2 日起，每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn)，包括延安高架、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車、未載客的出租車等通行。因?yàn)樾履茉雌囓嚺戚^容易獲得，不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車，因此帶動(dòng)了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時(shí)代，生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此，潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì)，而控制
2020-12-21
2020-12-21
近日，由復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司攜手西南大學(xué)分測(cè)中心共同舉辦的《顯微分析與制樣技術(shù)交流會(huì)暨飛納電鏡免費(fèi)測(cè)樣周活動(dòng)》順利落下帷幕。西南大學(xué)分析測(cè)試中心（簡(jiǎn)稱：中心）成立于 2018 年 9 月，是面
近期，中化國(guó)際子公司 -- 上海中化科技有限公司（以下簡(jiǎn)稱“中化”）成功引入了飛納臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描透射電鏡 Pharos STEM，并順利完成裝機(jī)驗(yàn)收和操作。該設(shè)備的投入使用，有助于企業(yè)對(duì)于塑料制品的缺
在電子半導(dǎo)體行業(yè)，樣品制備對(duì)于失效分析至關(guān)重要。司特爾提供的制樣設(shè)備，如精密切割，真空浸漬鑲嵌和機(jī)械磨拋，確保樣品分析前的最佳處理效果。使用氬離子研磨儀可以對(duì)樣品進(jìn)行無應(yīng)力的拋光或者切削處理，便于后續(xù)
用戶案例｜讀懂火山噴發(fā)前的“化學(xué)倒計(jì)時(shí)”，Neoscan 顯微CT助力巖漿同化機(jī)制研究！在地質(zhì)研究中，“時(shí)間”是一項(xiàng)最難精確捕捉的變量。尤其是在火山噴發(fā)這樣的突發(fā)性地質(zhì)事件中，巖漿從深部穿越地殼、與圍
半導(dǎo)體是現(xiàn)代電子產(chǎn)品的基礎(chǔ)，支撐著從計(jì)算到數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的一切功能。隨著器件尺寸縮小且結(jié)構(gòu)日益復(fù)雜，精準(zhǔn)的失效分析變得至關(guān)重要。AFM-in-SEM 失效分析：該技術(shù)直接集成于 FIB / SEM（聚焦離子
Nature Nanotechnology ｜ 原子層沉積賦能無鈷 LiNiO? 正極材料，引領(lǐng)全固態(tài)鋰電池性能革新！ 發(fā)表文章：High-energy all-solid-st
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