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| 品名 EA1000VX X射線熒光分析儀 |
| 型號 EA1000VX |
| 概要 本臺儀器是對應環(huán)境限制物質管理、可高速且簡單測量有害物質的X射線熒光分析儀。通過高速測定和材料辨別等各種新功能，檢測效率得以大幅提高。也可對應膜厚測量以及貴金屬分析等常規(guī)分析。 |
| 特長 |
| EA1000VX產(chǎn)品規(guī)格 | |
| 測量元素 | 原子序數(shù)13(Al)～92(U) |
| 樣品形態(tài) | 固體・粉末・液體 |
| X射線源 | X射線管球(Rh靶) 管電壓：15kV 、50kV 管電流：1mA（10μA～1000μA可變 ） |
| X射線照射方向 | 下方照射方式 |
| 檢測器 | Vortex Si半導體檢測器(無需液氮) |
| 準直器 | Φ1mm，Φ3mm，Φ5mm (自動切換) |
| 樣品觀察 | 彩色CCD攝像頭 |
| 樣品室 | 370(W) ×320(D) ×120(H)mm |
| 濾波器 | 5種模式自動切換（包含OFF） |
| 操作方式 | 筆記本或臺式電腦 |
| 軟件 | ・X-Ray Station 定性分析（能譜測量，自動辨別，KLM標示表示，比較/差異表示， 定量分析（塊體FP法，塊體檢量線法） 常規(guī)測量 ・環(huán)境限制物質測量軟件 Ver.2（增加新功能） |
| 數(shù)據(jù)處理 | Microsoft® Excel、Microsoft® Word |
| 使用電源 | AC100～240V ±10% 單相 |
| 附件 | 樣品杯2種（液體樣品和微小樣品用） |
| 選購項 | ・薄膜FP軟件 ・薄膜標準曲線軟件 ・能譜匹配（已登陸的標準物質能譜的比較） ・環(huán)境限制物質測量軟件 Ver.1 ・各種標準物質（各種環(huán)境管制用標準物質，無鉛焊錫標準物質，無鉛焊錫箔標準物質） ・警示燈 ・打印機 |
暫無數(shù)據(jù)！
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