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顯微分光膜厚儀“OPTM”O(jiān)PTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對(duì)反射率的新型高精度、高性價(jià)比的分光膜厚儀。適用于各種可透光膜層的測試，并有獨(dú)家專利可針對(duì)透明基板去除背面反射，從而達(dá)到“真實(shí)反射率、膜厚”測試的目的。此外，軟件操作簡單、使用方便且簡化了復(fù)雜的...全文>>

Zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng)ELSZneoELSZneo是ELSZseries的最高級(jí)機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（ZetaPotential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進(jìn)行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。全新的zeta電位...全文>>

大塚電子利用光技術(shù)，開發(fā)出各種分析測量裝置，給客戶提供尖端測量技術(shù)支持。以測量技術(shù)、應(yīng)用示例等重點(diǎn)介紹為主，定期舉辦Webinar(網(wǎng)絡(luò)研討會(huì))。 本研討會(huì)免費(fèi)參加 通過以下Forms鏈接，提交參會(huì)...全文>>

助力雙碳目標(biāo)達(dá)成，第十五屆國際電池展CIBF2023于2023年5月16日至5月18日在深圳國際會(huì)展中心舉辦。本次盛會(huì)參與人數(shù)眾多，大塚電子攜最新款納米粒度儀產(chǎn)品ELSZneo首次亮相，與行業(yè)內(nèi)新老朋友廣泛交流，收獲頗豐。期待下次再相遇。Zeta電位·粒徑·分子量測量系統(tǒng)多檢體納米粒徑測量系統(tǒng)顯微分...全文>>

RETS-100nx相位差測量儀是OLED圓偏光片、疊層補(bǔ)償膜、IPS液晶用帶補(bǔ)償偏光片等各種薄膜的光學(xué)延遲量測量系統(tǒng)。實(shí)現(xiàn)非破壞、疊層無需分離的原位測量。RETS-100nx可以高速、高精度測量60,000nm的極高相位差(延遲量)。簡潔、人性化的測量軟件，極大地縮短測量與處理時(shí)間。此外，軸角度補(bǔ)...全文>>

1.開頭近年來，在平板顯示器、包裝用薄膜、光學(xué)薄膜等領(lǐng)域出現(xiàn)了各種各樣的產(chǎn)品，特別是在這些產(chǎn)品中，光學(xué)特性成為最重要的特性之一。我們提供用于產(chǎn)品質(zhì)量控制的分光測量系統(tǒng)，本文介紹這些系統(tǒng)。2.什么是分光(1) 光特性光具有粒子和波的特性。當(dāng)光以波表示時(shí)，波的波峰到波峰或波谷到波谷的距離稱為波長（圖1）...全文>>

MCPD series 薄膜在線測量設(shè)備是光學(xué)式測量系統(tǒng)，可以以非接觸和非破壞性的方式測量薄膜厚度、透過率、顏色等。可測量的膜厚范圍為 65 nm 到 92 μm。（以折射率n=1.5換算）采用分光干涉法測量原理，支持多層膜厚測量，同時(shí)實(shí)現(xiàn)高重復(fù)性精度。采用獨(dú)創(chuàng)的算法，可以高速實(shí)時(shí)監(jiān)控，非常適合于薄...全文>>

ELSZ-PT是與ELSZ-2000 series、ELSZneo配合使用的pH滴定儀，可自動(dòng)測量pH或添加劑濃度對(duì)粒徑 · Zeta電位的影響，并可以與平板樣品池連接使用。等電點(diǎn)評(píng)價(jià)為自動(dòng)測量，可縮短作業(yè)時(shí)間。pH范圍　pH1～13測量模式　滴定模式?添加劑模式?循環(huán)模式循環(huán)流速　約10～40mL...全文>>

1.開頭近年來，在平板顯示器、包裝用薄膜、光學(xué)薄膜等領(lǐng)域出現(xiàn)了各種各樣的產(chǎn)品，特別是在這些產(chǎn)品中，光學(xué)特性成為最重要的特性之一。我們提供用于產(chǎn)品質(zhì)量控制的分光測量系統(tǒng)，本文介紹這些系統(tǒng)。2.什么是分光(1) 光特性光具有粒子和波的特性。當(dāng)光以波表示時(shí)，波的波峰到波峰或波谷到波谷的距離稱為波長（圖1）...全文>>