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大塚電子（蘇州）有限公司 2023-04-04 點(diǎn)擊1259次
RETS-100nx相位差測(cè)量?jī)x是OLED圓偏光片、疊層補(bǔ)償膜、IPS液晶用帶補(bǔ)償偏光片等各種薄膜的光學(xué)延遲量測(cè)量系統(tǒng)。實(shí)現(xiàn)非破壞、疊層無需分離的原位測(cè)量。RETS-100nx可以高速、高精度測(cè)量60,000nm的極高相位差(延遲量)。
簡(jiǎn)潔、人性化的測(cè)量軟件，極大地縮短測(cè)量與處理時(shí)間。此外，軸角度補(bǔ)正功能可以消除因放置而導(dǎo)致的誤差。您可以輕松獲得高精度測(cè)量結(jié)果。
特 點(diǎn)
● 采用本公司光譜儀實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量
1) 高精度
多波長測(cè)量實(shí)現(xiàn)高精度
說明1: 對(duì)于光學(xué)原理上難以測(cè)量的λ/4, λ/2處的延遲量，通過附近數(shù)據(jù)擬合求得。
說明2: 測(cè)量結(jié)果不受膜厚干涉波形的影響。
[高精度的關(guān)鍵]
· 搭載本公司高精度MCPD光譜儀。
· 獲取約500個(gè)波長的透過率，是其他公司產(chǎn)品的約50倍
2) 0~60,000nm相位差(延遲量)的寬測(cè)量范圍
可以在相同強(qiáng)度下計(jì)算其他波長數(shù)據(jù)
3) 測(cè)量相位差(延遲量)的波長色散
也可以測(cè)量逆向分散樣品
● 測(cè)量范圍涵蓋了超高相位差(光學(xué)延遲量)——可以高速、高精度測(cè)量補(bǔ)償膜
● 多層薄膜測(cè)量——可以測(cè)量各種薄膜的層疊狀態(tài)，無需分離或破壞樣品
● 軸角補(bǔ)正功能——樣品未對(duì)準(zhǔn)也可測(cè)量，且重復(fù)性好
■ 重復(fù)放置樣品 10 次，比較有無校正功能的測(cè)量結(jié)果
[樣品：延遲膜 R85]
● 簡(jiǎn)潔、人性化的測(cè)量軟件——大幅縮短測(cè)量和處理時(shí)間
測(cè) 量
測(cè)量項(xiàng)目
| 薄膜, 光學(xué)材料 | 延遲量(波長色散), 慢軸, Rth*, 三次元折射率(nx ny nz)* 等 |
| 偏光片 | 吸收軸, 偏振度(偏光度), 消光比, 各種色度, 各種透過率 等 |
| 液晶盒 | 液晶盒厚(Cell gap), 預(yù)傾角*, 扭曲角, 配向角 等 |
*需要自動(dòng)傾斜樣品臺(tái)
規(guī) 格
| 相位差(延遲量)測(cè)量范圍 | 0 ~ 60,000nm |
| 相位差(延遲量)的重復(fù)精度 | 3σ≦0.08nm(晶體波片 約600nm) |
| CellGap測(cè)量范圍 | 0 ~ 600μm(Δn=0.1) |
| CellGap的重復(fù)性 | 3σ≦0.005μm(液晶盒 約3μｍ, Δn=0.1) |
| 軸的重復(fù)精度 | 3σ≦0.08°(晶體波片 約600nm) |
| 測(cè)量波長 | 400 ~ 800nm(提供其他波長可選) |
| 檢測(cè)器 | 光譜儀 |
| 測(cè)量光斑 | φ7㎜(標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格) |
| 光源 | 100W 鹵素?zé)?br style="margin: 0px; padding: 0px; outline: 0px; max-width: 100%; box-sizing: border-box; overflow-wrap: break-word !important;"/> |
| 樣品臺(tái)(標(biāo)準(zhǔn)) | 100㎜ x 100㎜(固定樣品臺(tái)) |
| 裝置尺寸 | 480(W) x 520(D) x 765(H)mm |
| 選配 | · 超高相位差(延遲量)測(cè)量 · 多層測(cè)量 · 軸角補(bǔ)正功能 · 自動(dòng) XY 樣品臺(tái) · 自動(dòng)傾斜樣品臺(tái) |
光學(xué)系
● 固定樣品臺(tái)
● 自動(dòng) XY 樣品臺(tái)
● 自動(dòng)傾斜樣品臺(tái)