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掩膜版｜保護(hù)膜表面顆粒物快速檢測(cè)系統(tǒng)（PDS）圖片
本圖片來自復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司提供的掩膜版｜保護(hù)膜表面顆粒物快速檢測(cè)系統(tǒng)（PDS），型號(hào)為FM-PR-PDS的Fastmicro粉體特性測(cè)試儀，產(chǎn)地為荷蘭，屬于品牌，參考價(jià)格為面議，公司還可為用戶供應(yīng)高品質(zhì)的?AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)（通用版）、飛納手套箱版掃描電鏡等產(chǎn)品。復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司是中國(guó)粉體網(wǎng)的金牌會(huì)員，合作關(guān)系長(zhǎng)達(dá)8年，工商信息已通過人工核驗(yàn)，獲得粉享通誠(chéng)信認(rèn)證，請(qǐng)放心選擇！
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復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司
金牌會(huì)員8年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已認(rèn)證
品牌性質(zhì)：代理商
廠商榮譽(yù)：
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核心參數(shù)
誤差率：
-分辨率：
100nm重現(xiàn)性：
-分散方式：
-測(cè)量時(shí)間：
可在數(shù)秒內(nèi)完成 4 至 12 英寸掩膜版｜保護(hù)膜成像測(cè)量范圍：
夠檢測(cè) ≥ 0.1μm 聚苯乙烯乳膠（PSL）等效顆粒（經(jīng) NIST 認(rèn)證）
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