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適用金屬和礦物研究—飛納電鏡ChemiPhase物相分析軟件
更容易,更全面,更準(zhǔn)確的物相分析
對(duì)于金屬合金和礦物分析領(lǐng)域的研究人員來(lái)說(shuō),物相分析 非常重要,物相分析通??梢越柚鷴呙桦婄R背散射電子信 號(hào)成像(BSE)和能譜(EDS 成分分析)來(lái)進(jìn)行判定。 掃描電鏡背散射電子成像(BSE)信號(hào)強(qiáng)度隨原子量而變 化,可以通過成分襯度尋找異質(zhì)材料。但是,如果材料具 有相似的原子量或材料的化學(xué)性質(zhì)過于復(fù)雜,則 BSE 對(duì)比 度可能會(huì)很差,從而導(dǎo)致不完整的表征結(jié)果,甚至可能出 現(xiàn)錯(cuò)誤結(jié)論
ChemiPhase 物相分析軟件可幫助我們輕松找到問題答案,并且給出 以下信息:成分是什么,它是如何分布的,以及每個(gè)相有多少。 飛納電鏡 ChemiPhase 物相分析軟件是 ChemiSEM 技術(shù)中一種新型物相鑒定和定量表征手段, 旨在通過結(jié)合先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)分析和 ChemiSEM SEM-EDS 平臺(tái)來(lái)識(shí)別獨(dú)特的物相,并識(shí)別成分列出 其面積分?jǐn)?shù),從而應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)
什么是 ChemiPhase 物相分析軟件
飛納電鏡 ChemiSEM 軟件使用大數(shù)據(jù)方法來(lái)采集樣品的立體數(shù)據(jù),自動(dòng)統(tǒng)計(jì)出具有統(tǒng)計(jì)意義的 物相。然后,飛納電鏡 ChemiPhase 物相分析軟件為每個(gè)像素提供一個(gè)簡(jiǎn)單的概率,指示它歸 屬于哪個(gè)相。因?yàn)槊總€(gè)像素只能屬于一個(gè)相,這使得復(fù)雜樣品的解釋更加直接并且直觀。值得注 意的是,飛納電鏡 ChemiPhase 物相分析軟件是一個(gè)全面、準(zhǔn)確的統(tǒng)計(jì)軟件,可以解決傳統(tǒng)方 法的難題。傳統(tǒng)方法如果遺漏了元素(即,由于重疊的峰或強(qiáng)度不足),可能會(huì)產(chǎn)生錯(cuò)誤的結(jié) 果。此外,傳統(tǒng)的物相測(cè)定高度依賴于對(duì)樣品的假設(shè),而 ChemiPhase 物相分析軟件可確保所 有用戶都能獲得相同的結(jié)果,即使是具有挑戰(zhàn)性的樣品也是如此。
ChemiPhase 物相分析軟件優(yōu)勢(shì)軟件優(yōu)勢(shì) 不到一分鐘的時(shí)間內(nèi)完成大多數(shù)采集,即使是復(fù)雜的相圖也是如此 全自動(dòng)運(yùn)行,無(wú)需事先識(shí)別元素 明確識(shí)別主要和次要組件,精確到單個(gè)像素 無(wú)需豐富的用戶體驗(yàn)即可定位微量和微量元素 提供完整而全面的分析 定位峰重疊會(huì)掩蓋重要元素的獨(dú)特組分 可以使用非常少的 X 射線數(shù)據(jù)開始相位測(cè)定,每個(gè)像素低至 10 個(gè)計(jì)數(shù)。
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今年 11 月 2 日起,每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn),包括延安高架、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車、未載客的出租車等通行。因?yàn)樾履茉雌囓嚺戚^容易獲得,不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車,因此帶動(dòng)了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時(shí)代,生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此,潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì),而控制
2020-12-21
2020-12-21
高校信賴之選!安徽大學(xué)電鏡中心成功調(diào)試 DENS Lightning Arctic TEM 原位冷凍熱電桿!近日,DENSsolutions 最新款 Lightning Arctic TEM 原位冷凍
近日,飛納電鏡走進(jìn)福建農(nóng)林大學(xué),成功舉辦了“飛納電鏡助力農(nóng)業(yè)研究技術(shù)交流會(huì)”。本次交流會(huì)吸引了眾多生命科學(xué)、材料科學(xué)和電子顯微鏡領(lǐng)域的老師和研究人員,與會(huì)者對(duì)應(yīng)用案例的分享表現(xiàn)出極大的興趣,并進(jìn)行了深
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半導(dǎo)體是現(xiàn)代電子產(chǎn)品的基礎(chǔ),支撐著從計(jì)算到數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的一切功能。隨著器件尺寸縮小且結(jié)構(gòu)日益復(fù)雜,精準(zhǔn)的失效分析變得至關(guān)重要。AFM-in-SEM 失效分析:該技術(shù)直接集成于 FIB / SEM(聚焦離子
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