加速電壓：
1kV-20kV連續(xù)可調(diào)電子槍：
肖特基場發(fā)射電子槍電子光學(xué)放大：
2,000,000x光學(xué)放大：
27-160x分辨率：
優(yōu)于 1nm探測器：
BF、DF、HAADF看了Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡的用戶又看了
留言詢價(jià)
電話詢價(jià)
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
Phenom Pharos 臺式場發(fā)射掃描電鏡因其多功能性和**的成像性能贏得了良好的口碑 —— 即使是在傳統(tǒng)較難觀測的樣品中也表現(xiàn)優(yōu)異。直觀的用戶界面有助于將高分辨率圖像呈現(xiàn)給用戶， FEG 場發(fā)射電子源在 1-20kV 的加速電壓范圍內(nèi)都提供了高分辨率。
Phenom Pharos STEM 臺式場發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡，配備了 STEM 樣品杯，從另一個(gè)維度提高了其成像能力和應(yīng)用的多樣性。
作為全球**臺式場發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡，在較低的加速電壓下，減少了電子束對樣品的損傷，顯著提高了圖像的襯度。在臺式掃描電鏡下即可快速獲得高分辨的 BF 像、DF 像、HAADF 像，且支持用戶自定義成像。Pharos STEM 樣品杯為材料領(lǐng)域的研究提供了高效、全面的表征方式。
BF 像：主要是樣品正下方同軸的探測器接收透射電子和部分散射電子。影響明場像襯度（Contrast）的主要因素是樣品的厚度和成分。樣品越厚，原子序數(shù)（Z）越大，穿透樣品的電子越少，圖像就越暗，因此 BF 像對輕元素（Z 較小）比較敏感。
DF 像：主要是樣品下方非同軸位置的探測器接收散射電子信號。
HAADF 像：主要是接收高角度的非相干散射電子信號。原子序數(shù)（Z）越大，散射角也越大，原子核對入射電子的散射作用越強(qiáng)，圖像上更亮。因此又被稱為 Z 襯度像。
三種成像模式各有特點(diǎn)，具有不同的成像優(yōu)勢，可以根據(jù)樣品情況搭配使用，成像結(jié)果進(jìn)行互相驗(yàn)證。
煙草花葉病毒的BSE 像、BF 像、 DF 像和 HAADF 像
對比掃描電鏡的背散射電子圖像（BSE），桿狀的煙草花葉病毒在 BF 模式下更加直觀。BF 模式更適合觀察輕元素（Z 較?。p元素散射作用較弱，因此在 HAADF 模式下較難清晰觀測細(xì)節(jié)。
而桿狀煙草花葉病毒周圍較厚的脂質(zhì)球，電子較難穿透，BF 像上相對較暗。在 DF 模式下，密度較大的脂質(zhì)球表現(xiàn)出較強(qiáng)的衍射，因此在 DF 像上相對較亮。
規(guī)格參數(shù)：
系統(tǒng)兼容：Phenom Pharos G2 臺式場發(fā)射掃描電鏡
樣品兼容：? 3 mm TEM 載網(wǎng)(夾具固定)
成像時(shí)間：< 40 s*
成像模式：BF、DF、HAADF、 自定義**
成像工作流程：固定的 WD，設(shè)置**的探測器 ，完全集成的 UI
真空度：0.1, 10 & 60 Pa
分辨率：優(yōu)于 1 nm
* 加載樣品到呈現(xiàn)圖像的時(shí)間
** STEM 具有 11 分割探測器，用戶可以對其進(jìn)行自定義選擇
Pharos STEM 電子顯微鏡，利用 FEG 高亮度電子源，可在透射模式下對薄樣品進(jìn)行成像。專用的樣品夾可輕松裝載常規(guī) 3mm 直徑透射電鏡 (TEM) 載網(wǎng)，實(shí)現(xiàn)樣品的快速、安全切換。STEM 樣品杯可提供明場 (BF) 、暗場 (DF) 和高角度環(huán)形暗場 (HAADF) 像，并支持自定義選擇成像模式。
今年 11 月 2 日起，每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn)，包括延安高架、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車、未載客的出租車等通行。因?yàn)樾履茉雌囓嚺戚^容易獲得，不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車，因此帶動了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時(shí)代，生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此，潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì)，而控制
2020-12-21
2020-12-21
在電子半導(dǎo)體行業(yè)，樣品制備對于失效分析至關(guān)重要。司特爾提供的制樣設(shè)備，如精密切割，真空浸漬鑲嵌和機(jī)械磨拋，確保樣品分析前的最佳處理效果。使用氬離子研磨儀可以對樣品進(jìn)行無應(yīng)力的拋光或者切削處理，便于后續(xù)
高校信賴之選！安徽大學(xué)電鏡中心成功調(diào)試 DENS Lightning Arctic TEM 原位冷凍熱電桿！近日，DENSsolutions 最新款 Lightning Arctic TEM 原位冷凍
近日，飛納電鏡走進(jìn)福建農(nóng)林大學(xué)，成功舉辦了“飛納電鏡助力農(nóng)業(yè)研究技術(shù)交流會”。本次交流會吸引了眾多生命科學(xué)、材料科學(xué)和電子顯微鏡領(lǐng)域的老師和研究人員，與會者對應(yīng)用案例的分享表現(xiàn)出極大的興趣，并進(jìn)行了深
用戶案例｜讀懂火山噴發(fā)前的“化學(xué)倒計(jì)時(shí)”，Neoscan 顯微CT助力巖漿同化機(jī)制研究！在地質(zhì)研究中，“時(shí)間”是一項(xiàng)最難精確捕捉的變量。尤其是在火山噴發(fā)這樣的突發(fā)性地質(zhì)事件中，巖漿從深部穿越地殼、與圍
半導(dǎo)體是現(xiàn)代電子產(chǎn)品的基礎(chǔ)，支撐著從計(jì)算到數(shù)據(jù)存儲的一切功能。隨著器件尺寸縮小且結(jié)構(gòu)日益復(fù)雜，精準(zhǔn)的失效分析變得至關(guān)重要。AFM-in-SEM 失效分析：該技術(shù)直接集成于 FIB / SEM（聚焦離子
Nature Nanotechnology ｜ 原子層沉積賦能無鈷 LiNiO? 正極材料，引領(lǐng)全固態(tài)鋰電池性能革新！ 發(fā)表文章：High-energy all-solid-st
Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡的工作原理介紹？Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡的使用方法？Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡多少錢一臺？Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡使用的注意事項(xiàng)Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡的說明書有嗎？Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡的操作規(guī)程有嗎？Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡有現(xiàn)貨嗎？Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡包安裝嗎？
手機(jī)版：
工商已核實(shí)
