誤差率：
-分辨率：
-重現(xiàn)性：
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Fastmicro 環(huán)境落塵顆粒實(shí)時監(jiān)控儀 PFS
Fastmicro 環(huán)境落塵顆粒實(shí)時監(jiān)控儀，專為潔凈室顆粒沉積速率測量而研發(fā)，支持秒級間隔的數(shù)據(jù)采集，精準(zhǔn)測量 0.5 um 以上顆粒。結(jié)合直觀易用的軟件系統(tǒng)，幫助客戶實(shí)現(xiàn)從單純空氣監(jiān)測向表面潔凈度監(jiān)測的跨越式升級，為工藝流程優(yōu)化和潔凈度持續(xù)改進(jìn)提供科學(xué)依據(jù)。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
數(shù)據(jù)輸出及可視化：符合 ISO 14644-17 標(biāo)準(zhǔn)
高通量檢測：可檢測低至 0.5 um 顆粒
快速：10 秒完成 2 英寸面積檢測
定量：適用于生產(chǎn)與研發(fā)環(huán)境的驗(yàn)證與監(jiān)測
生產(chǎn)過程中的一致性測量
快速: 秒級連續(xù)監(jiān)測
定量: 適用于生產(chǎn)與研發(fā)環(huán)境的驗(yàn)證與監(jiān)測
易操作: 操作員簡單培訓(xùn)即可使用
精準(zhǔn): 高分辨率測量（數(shù)量、時間線、位置、尺寸）
一致性: 可重復(fù)的客觀測量結(jié)果
高吞吐量: 現(xiàn)場實(shí)時分析
監(jiān)測顆粒沉積速率（DPRL）
Fastmicro 環(huán)境落塵顆粒實(shí)時監(jiān)控儀（PFS）采用緊湊的工 業(yè)設(shè)計，依據(jù) ISO 14644-9 和 ISO 14644-17 標(biāo)準(zhǔn)，監(jiān)測顆 粒沉積速率（DPRL）。該設(shè)備使工藝/質(zhì)量工程師能夠?qū)崟r 監(jiān)控潔凈室環(huán)境中關(guān)鍵區(qū)域的顆粒沉降情況。
在關(guān)鍵區(qū)域?qū)崿F(xiàn)持續(xù)監(jiān)測
區(qū)別于傳統(tǒng)的僅監(jiān)測空氣懸浮顆粒，該系統(tǒng)可以對關(guān)鍵表 面的顆粒污染控制和潔凈度驗(yàn)證進(jìn)行持續(xù)監(jiān)測。 亞微米級顆粒并非始終懸浮于空氣中，它們可能沉積于關(guān) 鍵表面，影響技術(shù)潔凈度與產(chǎn)品質(zhì)量。
該儀器采用 2 英寸晶圓采集環(huán)境中的落塵顆粒，并可每 隔 10 秒左右對晶圓表面的顆粒進(jìn)行連續(xù)粒子沉降監(jiān)測。 其檢測粒徑尺寸為 ≥0.5（通過 NIST 認(rèn)證），并準(zhǔn)確量化 沉降速率。 軟件界面簡單直觀，可以一鍵生成報告。
Fastmicro PFS 是 唯 一 一 款 高 精 度 原 位 檢 測 顆 粒 的 儀 器，幫 助 工 程 師 應(yīng) 對潔凈工藝控制挑戰(zhàn)。
結(jié)合 Phenom XL 掃描電鏡，可以 便捷高效的進(jìn)一步對顆粒物進(jìn)行成分表征和溯源分析。
暫無數(shù)據(jù)！
今年 11 月 2 日起，每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn)，包括延安高架、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車、未載客的出租車等通行。因?yàn)樾履茉雌囓嚺戚^容易獲得，不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車，因此帶動了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時代，生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此，潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì)，而控制
2020-12-21
2020-12-21
在電子半導(dǎo)體行業(yè)，樣品制備對于失效分析至關(guān)重要。司特爾提供的制樣設(shè)備，如精密切割，真空浸漬鑲嵌和機(jī)械磨拋，確保樣品分析前的最佳處理效果。使用氬離子研磨儀可以對樣品進(jìn)行無應(yīng)力的拋光或者切削處理，便于后續(xù)
高校信賴之選！安徽大學(xué)電鏡中心成功調(diào)試 DENS Lightning Arctic TEM 原位冷凍熱電桿！近日，DENSsolutions 最新款 Lightning Arctic TEM 原位冷凍
近日，飛納電鏡走進(jìn)福建農(nóng)林大學(xué)，成功舉辦了“飛納電鏡助力農(nóng)業(yè)研究技術(shù)交流會”。本次交流會吸引了眾多生命科學(xué)、材料科學(xué)和電子顯微鏡領(lǐng)域的老師和研究人員，與會者對應(yīng)用案例的分享表現(xiàn)出極大的興趣，并進(jìn)行了深
用戶案例｜讀懂火山噴發(fā)前的“化學(xué)倒計時”，Neoscan 顯微CT助力巖漿同化機(jī)制研究！在地質(zhì)研究中，“時間”是一項(xiàng)最難精確捕捉的變量。尤其是在火山噴發(fā)這樣的突發(fā)性地質(zhì)事件中，巖漿從深部穿越地殼、與圍
半導(dǎo)體是現(xiàn)代電子產(chǎn)品的基礎(chǔ)，支撐著從計算到數(shù)據(jù)存儲的一切功能。隨著器件尺寸縮小且結(jié)構(gòu)日益復(fù)雜，精準(zhǔn)的失效分析變得至關(guān)重要。AFM-in-SEM 失效分析：該技術(shù)直接集成于 FIB / SEM（聚焦離子
Nature Nanotechnology ｜ 原子層沉積賦能無鈷 LiNiO? 正極材料，引領(lǐng)全固態(tài)鋰電池性能革新！ 發(fā)表文章：High-energy all-solid-st
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