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GE Xaminer微焦點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)圖片
本圖片來(lái)自先馳精密儀器（東莞）有限公司提供的GE Xaminer微焦點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)，型號(hào)為的X射線儀器，產(chǎn)地為美國(guó)，屬于品牌，參考價(jià)格為面議，公司還可為用戶供應(yīng)高品質(zhì)的GE Nanomex奈米級(jí)超高分辨率檢測(cè)系統(tǒng)、GE Nanotom s奈米焦點(diǎn)高分辨率CT系統(tǒng)等產(chǎn)品。先馳精密儀器（東莞）有限公司是中國(guó)粉體網(wǎng)的會(huì)員，合作關(guān)系長(zhǎng)達(dá)2年，工商信息已通過(guò)人工核驗(yàn)，獲得粉享通誠(chéng)信認(rèn)證，請(qǐng)放心選擇！
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先馳精密儀器（東莞）有限公司
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