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PHL應(yīng)力雙折射儀器
PHL PA-micro顯微型應(yīng)力雙折射儀
PHL應(yīng)力雙折射儀器簡介：
應(yīng)力雙折射儀，能夠快速、精準(zhǔn)測量雙折射相位差及其空間分布和方向。廣泛應(yīng)用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領(lǐng)域。
日本Photonic-lattice成立于1996年，以日本東北大學(xué)的光子晶體的研究技術(shù)為核心，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術(shù)**世界，并由此開發(fā)出的測量儀器。
PHL應(yīng)力雙折射儀在顯微鏡下快速測量PA-Micro：
型號 | PA-Micro |
測量范圍 | 0-130nm |
重復(fù)性 | <1.0nm |
像素?cái)?shù) | 1120x868 |
測量波長 | 520nm |
尺寸 | 250x487x690mm |
觀測到的**面積 | 5倍物鏡：1.1x0.8mm;10倍物鏡：0.5x0.4mm；20倍物鏡：270x200um;50倍物鏡：110x80um;100倍物鏡：55x40um. |
自身重量 | 11kg |
數(shù)據(jù)接口 | 千兆以太網(wǎng)（攝像機(jī)信號） |
電壓電流 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | PA-View（for Micro） |
暫無數(shù)據(jù)！
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