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PHL應力儀

PHL應力雙折射儀

PHL WPA-100應力雙折射測試儀器

PHL應力雙折射測試儀簡介：

PHL應力雙折射儀，能夠快速、精準測量雙折射相位差及其空間分布和方向。廣泛應用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質量分析和控制領域。

日本Photonic-lattice 成立于1996 年，以日本東北大學的光子晶體的研究技術為核心，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術**世界，并由此開發(fā)出的測量儀器。

Photonic Lattice主要產品分四部分：

• Photonic Lattice光子晶體光學元件；

• Photonic Lattice雙折射和相位差評價系統(tǒng)；

• Photonic Lattice膜厚測試儀；

• Photonic Lattice偏振成像相機。

Photonic Lattice雙折射測量系統(tǒng) WPA-100，WPA-100-L

Photonic Lattice WPA-100 系列產品可以測量的相位差達幾千納米的樣品。

Photonic Lattice WPA-100-L 可觀察更大視野范圍

PHLWPA-100應力雙折射測試儀主要參數表：

型號 WPA-100 WPA-100-L

測量范圍 0-4000nm

重復性 <1.0nm

像素數 384x288

測量波長 523nm，543nm，575nm

產品尺寸 310x466x605.5mm 450x593x915.5mm

觀測到的**區(qū)域 100x136mm 250x340mm

重量 20kg 26kg

數據接口 GigE（攝像機信號） RS232C（電機控制）

電壓電流 AC100-240V（50/60Hz）

軟件 WPA-View

適合樹脂成型鏡片檢測系統(tǒng)WPA-100-S

專為小鏡頭（10mm）雙折射測量而設計

配備自動選擇圓形區(qū)域，相位差值傳遞

失敗判斷功能，特別適合樹脂鏡片成型

的質量控制。

主要參數表

型號 WPA-100-S

測量范圍 0-4000nm

重復性 <1.0nm

像素數 384x288

測量波長 523nm，543nm，575nm

產品尺寸 200x275x309.5mm

觀測到的**面積 11.6x15.8mm

自身重量和電源重量 4kg 和9kg

電壓電流 AC100-240V（50/60Hz）

軟件 WPA-View