看了衍射光柵-相干光柵陣列的用戶又看了
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單片式單基片硅柵陣列(圖1)提供獨特的高分辨率連續(xù)獲得超出所能獲得的單個光柵的光帶寬。這種光柵須不能有移動部件。單片光柵陣列是一致的單次數(shù)據(jù)采集與許多寬帶應(yīng)用,例如激光誘導(dǎo)擊穿光譜,可以幫助系統(tǒng)元件數(shù)顯著減少。每個陣列由的所有相干在單一基板上形成的多個主光柵。母光柵有連續(xù)且輕度重疊的有效光譜范圍。此外,在基底的頂部和底部的輔助光柵產(chǎn)生直接的校準(zhǔn)的輸出區(qū)域用于使用一個單一參考波長,如氦氖激光器的波長的光輸出。
圖2。示意圖說明操作的單片光柵陣列光譜儀與2D檢測器設(shè)置
圖3。陣列輸出信號檢測原理圖
校準(zhǔn)/準(zhǔn)直功能特性
頂部和底部的六個小光柵陣列(參見圖1)提供了用于校準(zhǔn)的光譜輸出,以及協(xié)助系統(tǒng)對齊標(biāo)記,這里的校準(zhǔn)標(biāo)記用于氦氖照明,見示意圖4。校準(zhǔn)標(biāo)記提供了兩個主要的功能:**,它們表示在主光柵輸出的校準(zhǔn)部分的開始和結(jié)束點。因此,它們允許用戶校準(zhǔn)波長作為位置的函數(shù)的沿著各母光柵色散線 - 注意,校準(zhǔn)點所表示的波長范圍內(nèi)是獨立的光柵輸入角度,使光柵陣列具備各種不同可能的樣式。第二,輔助光柵輔助系統(tǒng)調(diào)整。當(dāng)所述檢測器表面被適當(dāng)?shù)囟ㄎ辉诮蛊矫骊嚵泻缶劢圭R,兩對對準(zhǔn)標(biāo)記設(shè)計為一致性和適當(dāng)遠(yuǎn)場操作指示。中心兩個標(biāo)記陣列探測器表面使得水平正確的準(zhǔn)直方式。
單片硅平面陣列
硅基底具有0.73毫米厚度。基板的高度和寬度公差是0.3毫米。光柵基片:單晶硅。光柵鍍膜:鋁(其它鍍膜類型額外收費)。
Primary Grating | Calibration Markers1 | Line/mm | Size | Part Number | Price first 99 units2,3 | Unit price 100+ |
1 | 381, 522 nm | 1788 | 12.5mm x 12.5mm | SAG-1212A-Al | $96.00 ea. | $25.00 ea. |
2 | 509, 696 nm | 1341 | ||||
3 | 683, 935 nm | 998 | ||||
4 | 929, 1271 nm | 734 | ||||
1The calibration markers listed are produced by a HeNe laser incident on the small calibration gratings. Use of a different calibration light source having a different wavelength will produce markers (see Fig. 4) coinciding with different values of the dispersed spectra of the four primary gratings. Using a common input angle for calibration light and signal, the calibration marks delineate spectral output ranges of the primary gratings that are independent of grating input angle. | ||||||
2 For orders with the total product value below $250.00, a handling charge of $75.00 will be added. | ||||||
3 Academic discounts are available for eligible institutions. To determine eligibility complete an account application procedure. |
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