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裂變徑跡年代學(xué)，是一種根據(jù)礦物中重核元素238U裂變產(chǎn)生的輻射損傷特性進(jìn)行分析的技術(shù)，鋯石和磷灰石是兩種主要分析礦物。50多年來，裂變徑跡在原理方法和應(yīng)用研究上逐步深入，并取得了進(jìn)展和突破。與U-Pb和Ar/Ar中、高溫?zé)崮甏啾?，裂變徑跡熱年代以低溫封閉特性為特色，它們與U-Th/He熱年代數(shù)據(jù)一道，成為約束低溫段造山帶剝露、地形地貌和沉積盆地?zé)嵫莼闹匾侄巍?/span>
德國徠卡的裂變徑跡顯微分析系統(tǒng)，適于磷灰石\鋯石等裂變徑跡的研究，通過徠卡智能型顯微鏡的自動化操作，對兩個樣本對應(yīng)區(qū)域進(jìn)行自動鏡像精準(zhǔn)定位、對比統(tǒng)計(jì)；能自動完成礦物顆粒分析、徑跡數(shù)目統(tǒng)計(jì)、測量徑跡與C軸角度、測量Dpar、Dper值，依據(jù)自發(fā)徑跡密度和誘發(fā)徑跡密度計(jì)算裂變徑跡表觀年齡。
系統(tǒng)組成
徠卡智能型全自動研究級顯微鏡；
高精度自動掃描臺；
自動聚焦模塊；
自動物鏡轉(zhuǎn)盤；
編碼識別變倍系統(tǒng)；
智能型光強(qiáng)、光闌控制；
研究級彩色數(shù)碼攝像頭；
專業(yè)的裂變徑跡應(yīng)用軟件包。
裂變徑跡顯微分析系統(tǒng)的主要功能：
統(tǒng)計(jì)軟件模塊能在高分辨率下，對兩個范圍對應(yīng)區(qū)域進(jìn)行自動鏡像對比統(tǒng)計(jì)。
統(tǒng)計(jì)軟件模塊能自動完成顆粒數(shù)目統(tǒng)計(jì)。
統(tǒng)計(jì)軟件模塊能自動讀出徑跡長度。
各種軟件生成或?qū)С龅臄?shù)據(jù)文件能與 Microsoft Excel 軟件格式相匹配，進(jìn)行數(shù)據(jù)的后續(xù)
處理；
功能的控制及圖像灰度、長度、計(jì)數(shù)等有關(guān)參數(shù)的計(jì)算；
實(shí)現(xiàn)徑跡長度和計(jì)數(shù)等功能的軟件，即圖像采集、處理、分析、管理等處理軟件，外設(shè)控制或可選插件的控制：攝像機(jī)的獲取插件控制；XY 載物臺控制；
多維圖像獲取和瀏覽插件，用于多時間點(diǎn)、多波長、多位點(diǎn)的圖像獲取；
自動薄片掃描控制；自動聚焦控制；
文件管理控制等。
暫無數(shù)據(jù)！
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