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場發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro
場發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro

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型號

場發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro

品牌

國儀量子

產(chǎn)地

北京

樣本

暫無
國儀量子技術(合肥)股份有限公司

白金會員

|

第17年

|

生產(chǎn)商

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核心參數(shù)
  • 探測器:

    旁側二次電子探測器(ETD) 低真空二次電子探測器(LVD) 插入式背散射電子探測器(BSED)
  • 加速電壓:

    200 V ~ 30 kV
  • 電子槍:

    肖特基熱場發(fā)射電子槍
  • 電子光學放大:

    1 ~ 1,000,000 x
  • 光學放大:

    -
  • 分辨率:

    0.9 nm @ 30 kV,SE
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場發(fā)射掃描電子顯微鏡
SEM4000Pro

SEM4000Pro是一款分析型熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡,配備了高亮度、長壽命的肖特基場發(fā)射電子槍。三級磁透鏡設計,束流**可達200 nA,在EDS、EBSD、WDS等應用上具有明顯優(yōu)勢。標配低真空模式,以及高性能的低真空二次電子探測器和插入式背散射電子探測器,可觀察導電性弱或不導電樣品。標配的光學導航模式,以及直觀的操作界面,讓您的分析工作倍感輕松。

image.png


產(chǎn)品優(yōu)勢

01配備高亮度、長壽命的肖特基熱場發(fā)射電子槍

02分辨率高,30 kV 下優(yōu)于 0.9 nm 的極限分辨率

03三級磁透鏡設計,束流可調(diào)范圍大,**支持 200 nA 的分析束流

04無漏磁物鏡設計,可直接觀察磁性樣品

05標配低真空模式,以及高性能的低真空二次電子探測器和插入式背散射電子探測器

06標配的光學導航模式,中文操作軟件,讓分析工作更輕松

應用案例

image.png

產(chǎn)品參數(shù)

關鍵參數(shù)高真空分辨率0.9 nm @ 30 kV,SE
低真空分辨率2.5 nm @ 30 kV,BSE,30 Pa
1.5 nm @ 30 kV, SE, 30 Pa
加速電壓200 V ~ 30 kV
放大倍率1 ~ 1,000,000 x
電子槍類型肖特基熱場發(fā)射電子槍
樣品室真空系統(tǒng)全自動控制
低真空模式**180 Pa
攝像頭雙攝像頭
(光學導航+樣品倉內(nèi)監(jiān)控)
行程X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm
T: -10°~+70°,R: 360°
探測器和擴展標配旁側二次電子探測器(ETD)
低真空二次電子探測器(LVD)
插入式背散射電子探測器(BSED)
選配能譜儀(EDS)
背散射衍射(EBSD)
插入式掃描透射探測器(STEM)
樣品交換倉
軌跡球&旋鈕控制板
軟件語言中文
操作系統(tǒng)Windows
導航光學導航、手勢快捷導航
自動功能自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散


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