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一、產(chǎn)品介紹

OP-90ZMS納米粒度儀基于光子相關光譜技術，以本公司****技術研制的大動態(tài)范圍高速光子相關器為核心器件，采用本公司在顆粒粒度反演算法上的**研究成果，因此具有準確度高、重復性高的特點，是測量亞微米及納米顆粒粒度的**選擇。適用于測量各種亞微米及納米顆粒的稀釋溶液。

二、測試原理

當激光束照射樣品時，由于散射區(qū)域所有粒子的光散射作用，散射場會出現(xiàn)散射光斑。某些位置，由于場強的疊加得到較大的光強，某些位置，由于場強的相互抵消，獲得的光強較弱。然而，由于粒子的布朗運動，光斑不是靜止不動的，而是隨時間波動。在固定的散射角度由光電倍增管測得散射光，并送入光子相關器進行自相關運算得到光強自相關函數(shù)，對相關函數(shù)進行反演就可以獲得顆粒粒徑和粒度分布信息。

Zeta 電位是對顆粒之間相互排斥或吸引力強度的度量，是樣品分散穩(wěn)定性的一個指標。Zeta電位越高，體系越穩(wěn)定，即溶液可以抵抗聚集。反之，Zeta電位越低，越傾向于凝結或凝聚，即吸引力超過了排斥力，分散被破壞而發(fā)生凝結或凝聚。電泳光散射法是測量Zeta電位的主要方法，它是通過散射光的多普勒頻移來測量電泳遷移率，從而計算出Zeta電位。

三、性能特點

1、大動態(tài)范圍高速光子相關器：采用**技術設計的光子相關器，以高、低速通道搭配的結構，有效解決了硬件資源與通道數(shù)量之間的矛盾，實現(xiàn)了10¹⁰的動態(tài)范圍，并保證了相關函數(shù)基線的穩(wěn)定性。

2、**反演算法：采用**擬合累積反演法和基于V-曲線判斷準則的正則化算法反演顆粒粒徑及其粒度分布，使測量結果的準確度和重復性均小于1%。

3、超強的抗噪能力：采用小波消噪技術，解決了散射光強較低時，噪聲過大對測量結果的影響。

4、穩(wěn)定的光路系統(tǒng)：采用532nm固態(tài)激光光源和單模保偏光纖技術搭建而成的光路系統(tǒng)，保證了光子相關光譜測量系統(tǒng)的穩(wěn)定性和準確度。

5、高精度溫控系統(tǒng)：基于半導體制冷裝置，采用自適應PID控制算法，使溫度控制精度達±0.1℃。

6、高靈敏度光子探測器：采用專業(yè)級高性能光電倍增管，對光子信號具有極高的靈敏度和信噪比。光子計數(shù)器采用邊沿觸發(fā)模式，瞬間捕捉光子脈沖的變化。

四、軟件功能

1、一鍵啟動式測量，自動生成測試報表

2、自動調(diào)整散射光強，無需用戶干涉

3、自動優(yōu)化光子相關器參數(shù)，以適應不同樣品

五、測試報告

Duke公司150nm標準樣品(3150A)的測試結果如下

六、技術指標