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半導(dǎo)體芯片老化和邏輯測(cè)試系統(tǒng)品牌
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生產(chǎn)廠家：Aehr Test Systems
從工藝到生產(chǎn)的解決方案：
FOX-CP Single Wafer Stepping Test & Burn-In System
FOX-NP Dual WaferPak & Dual DiePak Test & Burn-In System
FOX-XP Multi WaferPak & Multi DiePak Test & Burn-In System
FOX-P WaferPak Contactors
FOX-P DiePak Carrier
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