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激光粒度分析儀基于激光衍射原理測量粉體顆粒的粒度分布，憑借測量速度快、操作維護(hù)方便、動(dòng)態(tài)范圍寬以及良好的重現(xiàn)性和準(zhǔn)確性等優(yōu)勢，成為很多材料實(shí)驗(yàn)室必備的檢測儀器。相較于實(shí)驗(yàn)室用粒度儀器，在線激光粒度分析儀則直接應(yīng)用在粉體工廠生產(chǎn)車間現(xiàn)場，自動(dòng)實(shí)時(shí)監(jiān)測生產(chǎn)管線內(nèi)的粒度數(shù)據(jù)，通過專用接口同步反饋給粉體制備設(shè)備，從而實(shí)現(xiàn)粉體生產(chǎn)粒度控制的智能化。在線激光粒度分析儀對于提高粉體產(chǎn)品質(zhì)量、減少廢料產(chǎn)生、減少人工成本，從而降低生產(chǎn)成本提高企業(yè)效益起到關(guān)鍵作用。
PATlink 3000系列在線激光粒度監(jiān)控系統(tǒng)是真理光學(xué)基于多年積累的粒度表征技術(shù)及自動(dòng)化過程控制技術(shù)開發(fā)的新一代實(shí)時(shí)在線粒度監(jiān)測與控制系統(tǒng)，粒度范圍涵蓋1μm至1000μm，適合干法和濕法的生產(chǎn)工藝過程，既可用于在線粒度測量，也可以用于現(xiàn)場手動(dòng)取樣的粒度分析。
PATlink系列具有穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)和先進(jìn)的技術(shù)支撐，以滿足苛刻、復(fù)雜的過程工藝環(huán)境對連續(xù)粒度測量和控制的要求，被廣泛應(yīng)用于電池材料、水泥、面粉加工、粉末冶金、3D打印、制藥、先進(jìn)陶瓷、拋光液、粉末涂料、色漿顏料等產(chǎn)品生產(chǎn)的粒度自動(dòng)控制。
PATlink 在線激光粒度監(jiān)控系統(tǒng)部分應(yīng)用場景

>    無需人工從車間取樣，到實(shí)驗(yàn)室完成樣品測量，在粉體生產(chǎn)加工的全過程都可以實(shí)時(shí)了解當(dāng)前以及回溯粉體粒度大小的變化趨勢
>    閉環(huán)的過程優(yōu)化及持續(xù)監(jiān)測和控制
>    確保生產(chǎn)設(shè)備運(yùn)行符合目標(biāo)值減少不同批次產(chǎn)品間的差異
>    批量生產(chǎn)時(shí)開機(jī)后快速達(dá)到合格標(biāo)準(zhǔn)，減少原料浪費(fèi)和返工

PATlink 3000系列原理圖

PATlink 系列濕法系統(tǒng)圖

PATlink 系列干法系統(tǒng)圖

PATlink 系列主要性能特點(diǎn)
>    測量速度：ZUI快每秒5次完整粒度分布，每分鐘能測量多達(dá)數(shù)百萬個(gè)顆粒
>    超大角光學(xué)系統(tǒng)，確保亞微米粒徑準(zhǔn)確可靠測量
>    DUI創(chuàng)的液體鞘流法窗口玻璃保護(hù)技術(shù)
>    雙氣簾干法窗口玻璃保護(hù)技術(shù)
>    一機(jī)多線多用方案，一臺主機(jī)監(jiān)測多條生產(chǎn)線，既可在線測量(On-line)又可旁線測量(At-line)
>    采用光纖偏振保持及空間濾波**技術(shù)，確保光路系統(tǒng)在使用過程中無需任何機(jī)械調(diào)整
>    滿足EMC工業(yè)級電磁兼容性要求
>    防水防塵性能達(dá)到IP65工業(yè)防護(hù)等級
>    采用光纜連接控制室和粒度檢測系統(tǒng)的計(jì)算機(jī)，具有極強(qiáng)的抗干擾能力，并實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)至千米的數(shù)據(jù)傳輸和控制
>    支持Modbus RTU/TCP等工業(yè)控制通訊協(xié)議，連接客戶PLC系統(tǒng)