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Sigma 300

用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

• 靈活的探測(cè)，4步工作流程，高級(jí)的分析性能

  將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。

  Sigma 300 具有極高的性價(jià)比，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。

• 基于成熟的 Gemini 技術(shù)

• Gemini 鏡頭的設(shè)計(jì)結(jié)合考慮了電場(chǎng)與磁場(chǎng)對(duì)光學(xué)性能的影響，并將場(chǎng)對(duì)樣品的影響降至更低。這使得即使對(duì)磁性樣品成像也能獲得出色的效果。

• Gemini in-lens 的探測(cè)確保了信號(hào)探測(cè)的效率。

• Gemini 電子束加速器技術(shù)確保了小的探測(cè)器尺寸和高的信噪比。

靈活的檢測(cè)器選項(xiàng)，獲取清晰圖像

• 使用新穎的ETSE和Inlens探測(cè)器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息。

• 使用VPSE或C2D檢測(cè)器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。

• 使用aSTEM檢測(cè)器生成高分辨率透射圖像。

• 使用HDBSD或YAG檢測(cè)器分析成分。

• 高級(jí)分析型顯微鏡

• 將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合：Sigma 一流的背散射幾何探測(cè)器大大提升了分析性能，特別是對(duì)電子束敏感的樣品。

• 在一半的檢測(cè)束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。

• 獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無(wú)陰影的分析結(jié)果。

• 蔡司Sigma 300 可提供

集成式 EDS 解決方案

在低能量分析應(yīng)用中同時(shí)實(shí)現(xiàn)高清晰度成像

Sigma Element 是一種集成式 EDS 解決方案，擁有高可用性和低電壓靈敏度。僅需使用一臺(tái)計(jì)算機(jī)來(lái)控制 EDS 和 SEM，進(jìn)而大大提升了該集成化解決方案的易用性。同時(shí)，借助專門為顯微鏡和 EDS 操作設(shè)計(jì)的用戶界面可實(shí)現(xiàn)并行控制。

? 集成化：通過(guò)集成化，結(jié)合高清晰成像與快速分析，從而獲得不錯(cuò)結(jié)果

? 定制化：根據(jù)不同的用戶需求定制軟件

? 靈敏度：獨(dú)特的氮化硅窗口增強(qiáng)低能X射線的探測(cè)靈敏度

• 拉曼成像與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)

  完全集成化的拉曼成像

  獲取樣品中化學(xué)結(jié)構(gòu)的指紋信息：聚焦拉曼光譜成像可擴(kuò)展您的蔡司Sigma 300 掃描電鏡性能。 分析獲得樣品分子結(jié)構(gòu)和結(jié)晶信息。 通過(guò)拉曼成像與EDS數(shù)據(jù)可進(jìn)行3D 分析并與SEM圖像關(guān)聯(lián)。完全集成化的拉曼成像掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)使你充分發(fā)揮SEM和拉曼系統(tǒng)的功能。

用戶友好，操作簡(jiǎn)單

SmartSEM Touch是現(xiàn)已有操作系統(tǒng)的附加組件，用于多用戶環(huán)境，是一種簡(jiǎn)潔的用戶界面。

它同時(shí)為操作經(jīng)驗(yàn)豐富的專家用戶和初級(jí)用戶提供了簡(jiǎn)便的操作。

基于實(shí)際的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境，SEM的操作可能是電子顯微鏡專家的專屬領(lǐng)域。

但是，非專業(yè)用戶（例如學(xué)生，接受培訓(xùn)不久的人員或質(zhì)量工程師）也需要使用SEM獲取數(shù)據(jù)，因此也有使用SEM的需求。 Sigma 300和Sigma 300 VP將非專業(yè)用戶的需求考慮在內(nèi)，其用戶界面選項(xiàng)可滿足操作經(jīng)驗(yàn)豐富的顯微鏡專家和顯微鏡新手用戶的操作需求。