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多年來，掃描探針圖像處理軟件SPIP™，已經(jīng)成為實(shí)際意義上的納米級(jí)圖像處理的標(biāo)準(zhǔn)。**版SPIP™發(fā)布于1995年。然而Image Metrology公司的創(chuàng)始人Dr.Jan F. Jørgensen已于5年前就開始在其工科博士研究部分項(xiàng)目中開發(fā)SPIP™圖像處理軟件。期間曾與IBM及丹麥基礎(chǔ)計(jì)量研究所及丹麥科技大學(xué)等單位合作開發(fā)SPIP™軟件。

在超過42個(gè)國家的前沿的研究機(jī)構(gòu)和高科技公司將SPIP™圖像處理軟件應(yīng)用于半導(dǎo)體檢測(cè)中，物理，材料科學(xué)，化學(xué)，生物學(xué)，計(jì)量學(xué)技術(shù)，納米技術(shù)等很多領(lǐng)域。

SPIP™圖形分析軟件支持包括掃描探針顯微（SPM），干涉顯微鏡，掃描電子顯微鏡（SEM），共聚焦顯微鏡，光學(xué)顯微鏡，和三維輪廓儀等各種類型的顯微鏡及他們所生成的數(shù)據(jù)文件。無論你是資深的用戶或者是剛剛?cè)腴T的圖像處理的初學(xué)者。使用SPIP™圖像處理軟件，您只需點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)即可得到您需要的分析結(jié)果。

SPIP™圖像處理軟件是一個(gè)模塊化的軟件，提供包括一個(gè)基礎(chǔ)軟件分析模塊和13個(gè)可選的附加模塊?；A(chǔ)模塊包含必要的基本特征分析，例如文件讀取、數(shù)據(jù)分析、平面校正等功能。附加模塊則是為針對(duì)某些特定功能測(cè)試提供，包括歸一化校準(zhǔn)、降低噪聲、分析、3D構(gòu)建。在隨后的彩頁中你會(huì)發(fā)現(xiàn)各項(xiàng)功能的詳細(xì)介紹。從中您可以學(xué)到如何提高您工作的效率和質(zhì)量。

¨ 掃描探針顯微鏡（SPM）

¨ 掃描電子顯微鏡（SEM）

¨ 透射電子顯微鏡（TEM）

¨ 干涉儀

¨ 共焦顯微鏡

¨ 三維輪廓儀

---基本分析模塊

校準(zhǔn)和特征展現(xiàn)

---校準(zhǔn)

---針尖的表征

降低噪聲，提高特征

---相關(guān)平均

---濾波

---擴(kuò)展的傅立葉分析

測(cè)量和分析

---粒度分析

---粗糙度及硬度分析

---力曲線的分析

---隧道效應(yīng)光譜電流圖像

可視化

---三維可視化工作環(huán)境

---視頻與時(shí)間序列分析

增益生產(chǎn)能力

批量處理模塊和自動(dòng)報(bào)告

組織

--- 圖片瀏覽器

定制

---插頭接口