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XRSIM是由美國Iowa州立大學(xué)無損檢測(cè)中心研制的X射線無損檢測(cè)模擬軟件。軟件研制過程歷經(jīng)23年，其用戶包括美國Los Alamos國家實(shí)驗(yàn)室、Sandia國家實(shí)驗(yàn)室、NASA、美國國家科學(xué)基金會(huì)、美國諾爾原子能實(shí)驗(yàn)室，美國陸軍、空軍及其它國防工業(yè)部門；跨國大公司有如美國鋁業(yè)，達(dá)信航空航天，勞斯萊斯，普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等，以及荷蘭、韓國、印度、比利時(shí)等國家的實(shí)驗(yàn)室、科研院所、無損檢測(cè)教學(xué)單位及相關(guān)企業(yè)。
快速的射線檢測(cè)模擬。軟件在個(gè)人電腦上就可以以較快的速度運(yùn)行，也不需要優(yōu)越的工作環(huán)境。如圖所示，XRSIM的主要組成部分包括：綠色的CAD圖，根據(jù)CAD信息得到的彩色的厚度圖，射線檢測(cè)模擬的灰度圖以及參數(shù)設(shè)置主菜單和子菜單。
應(yīng)用領(lǐng)域：
?射線源（靶、窗口、能量范圍，……）
? X射線與物質(zhì)的相互作用（衰減定律，康普頓散射，電子對(duì)效應(yīng)）
?工件和缺陷（Stl文件）
?探測(cè)器（吸收劑量，膠片/ 非晶硅，圖像增強(qiáng)器，……）
?建模是基于基本的物理規(guī)律
?速度快
?開放式的用戶接口
?可模擬*多由20個(gè)零件組裝的產(chǎn)品，每個(gè)零件*多可植入4個(gè)缺陷
?對(duì)計(jì)算機(jī)硬件要求低
?節(jié)約膠片或探測(cè)器
?節(jié)約時(shí)間（人工+機(jī)時(shí)）
?透照方向分析
?檢測(cè)分辨力分析
?優(yōu)化檢測(cè)工藝或參數(shù)
?加快預(yù)研項(xiàng)目進(jìn)程（prototype）
?檢測(cè)覆蓋率分析
?教育培訓(xùn)
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Tel：010-68902940
Mr.He
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