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TDR阻抗測(cè)試儀-ZK2130（特性阻抗測(cè)試儀）

用途

TDR阻抗測(cè)試儀是采用時(shí)域反射技術(shù)設(shè)計(jì)的，能夠批量化、自動(dòng)化、快速、準(zhǔn)確測(cè)試被測(cè)件的特性阻抗，并提供測(cè)試波形分析、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析、自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)、自動(dòng)出具檢測(cè)報(bào)告并打印等功能。適用于剛性/撓性電路板、高頻電纜、高頻線材制造廠商的研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)及品管單位。和傳統(tǒng)TDR取樣示波器相比，增加了針對(duì)線路板、電纜行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)化、自動(dòng)化測(cè)試和分析軟件。為特性阻抗測(cè)試提供了一套快速、準(zhǔn)確、標(biāo)準(zhǔn)和經(jīng)濟(jì)的解決方案。

特征

1、批量化、自動(dòng)化測(cè)試，操作簡單、測(cè)試快捷，適合線纜工廠快速測(cè)試。

2、Windows操作環(huán)境，友好的人機(jī)界面，自動(dòng)出具測(cè)試結(jié)果。

3、提供單端和差分阻抗測(cè)試。

4、支持2通道、4通道測(cè)試。

5、快速定制測(cè)試任務(wù)及批量化、自動(dòng)化測(cè)試功能。

6、集成測(cè)試文件編輯器，快速設(shè)置測(cè)試參數(shù)。

7、自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，生成報(bào)表并保存在磁盤上。

8、顯示測(cè)試波形、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析及測(cè)試結(jié)果。

9、打印測(cè)試報(bào)表、波形及測(cè)試結(jié)果。

10、符合1394a/b、DiiVA、DP、HDMI1.4、SATA I/II、USB2.0/3.0等各種標(biāo)準(zhǔn)的特性阻抗測(cè)試要求

技術(shù)參數(shù)

項(xiàng)目規(guī)格

型號(hào)：TDR-ZK2130

測(cè)量功能：單端阻抗、差分阻抗、共模阻抗差分延遲、差分對(duì)內(nèi)延遲差、差分對(duì)間延遲差

控制阻抗測(cè)試范圍： 單端10Ω-150Ω

差分：20Ω-300Ω

測(cè)量精度： 50Ω±1%

重復(fù)測(cè)量精度 ： 50Ω±0.5%

測(cè)量長度 ： 0.04m～2m

水平顯示分辨率 ： 0.2mm

垂直顯示分辨率 ： 0.03Ω

測(cè)試方法 ： 時(shí)域反射法（TDR）

TDR 帶寬 ： >3 GHZ

取樣示波器帶寬： >5GHz

入射脈沖上升時(shí)間：<80ps

TDR采樣時(shí)間分辨率： 10ps

數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能 ：SPC功能模塊（SPC）