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metrolux夏克-哈德曼波前分析儀WFS Metrolux夏克-哈德曼波前分析儀WFS3743-40-200可在線分析激光及其他光源的波前相位分布，也可高精度的測量光學器件的像差。可以用于手機和相機的鏡頭等光學透鏡質量控制。夏克-哈特曼式傳感器的波前監(jiān)控器配合外部軟件可用于波前數(shù)據(jù)分析。 產(chǎn)品應用： 用于測量激光的波前； 測量光學器件的像差； 擴展的Raylux軟件用于數(shù)據(jù)分析； 用于透鏡的質量控制 產(chǎn)品參數(shù)： 測量精度: λ / 1000； 曝光時間: 10μs - 120 s ； 數(shù)據(jù)解析度: 12 Bit； 幀率： 15fps ； 微透鏡個數(shù)：45×35； 探測器類型： 2/3CCD”； 有效區(qū)域：8.97×6.71mm； 微透鏡大?。?/span>200μm； 焦距: 40 mm； 動態(tài)范圍：90 λ； 透鏡焦距: 7 mm； 曲率半徑: 14 mm ； 像素尺寸: 6.45μm； 像素: 1380 x 1040； 軟件界面
暫無數(shù)據(jù)！
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