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基于Phasics四波橫向剪切干涉**技術的SID NIR波前傳感器波長范圍覆蓋1.5- 1.6μm，具有超高分辨率（160x120測量點）。確保非常精確的波前測量。結構緊湊，很容易集成到一個光學臺用于鏡頭測試或鏡頭校準。它也適用于光學表面測試。
SID4-HR 光學器件測量自適應光學
特點：
由于其獨特的**技術，Phasics的SID4-NIR波前傳感器具備以下特點：
1.高分辨率：160x120測量點
2.高數值孔徑測量：無需轉鏡頭
3.消色差：1.5-1.6μm
4.結構緊湊：易于集成于光學系統(tǒng)
應用：
SID4 NIR主要應用鏡頭測試和光學系統(tǒng)校準。適用于所有的近紅外光學，如用于電信領域或光譜和夜視設備。
鏡頭表征：實時提供MTF和畸變數據。結構緊湊，易于集成于試驗臺和生產線。
光學設備校準：它提供了一個非常準確的*小像差測量。
SID4 NIR產品參數：
波長范圍 | 1500 - 1600 nm |
通光孔徑 | 3.6 x 4.8 mm2 |
空間分辨率 | 29.6 μm |
采樣點（相位/強度） | 160 x 120 (> 19 000 points) |
相位相對靈敏度 | < 11 nm RMS |
相位精度 | 15 nm RMS |
動態(tài)范圍 | ~ |
采樣頻率 | > 60 fps |
實時分析頻率 | > 10 fps (full resolution) |
數據接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 44 x 33 x 57.5 mm |
重量 | ~250 g |
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