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臺(tái)式X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀（XAFS/XES）

美國(guó)easyXAFS公司**推出臺(tái)式X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀（XAFS/XES），采用獨(dú)有的X射線單色器設(shè)計(jì)，無需同步輻射光源，在常規(guī)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中實(shí)現(xiàn)X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)測(cè)量和分析，提供XAFS和XES兩種測(cè)量模式，并輕松相互切換。以極高的靈敏度和光源質(zhì)量，廣泛應(yīng)用在催化、電池等研究領(lǐng)域，實(shí)現(xiàn)對(duì)元素的測(cè)定、定量和價(jià)態(tài)分析等。

easyXAFS產(chǎn)品參數(shù)

easyXAFS 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

- 無需同步輻射光源

- 科研級(jí)別譜圖效果

- 臺(tái)式設(shè)計(jì)，實(shí)驗(yàn)室內(nèi)使用

- 可外接儀器設(shè)備，控制樣品條件

- 可實(shí)現(xiàn)多個(gè)樣品或多種條件測(cè)試

- 操作便捷、維護(hù)成本低

easyXAFS 應(yīng)用案例譜圖展示

1、XAFS300

2、XES100

■ XES Mode

■ XAFS Mode

easyXAFS 已發(fā)表文章

1. Jahrman， Seidler， et al.， J. Electrochem. Soc. 2019.

2. Jahrman， Holden， et al.， Rev. Sci. Instrum. 2019.

3. Bès， Ahopelto， et al.， J. Nucl. Mater. 2018.

4. Mundy， Cossairt， et al.，Chem Mater 2018

5. Jahrman， Seidler， and Sieber， Anal. Chem.， 2018

6. Holden， Seidler， et al.， J. Phys. Chem. A， 2018.

7. Stein， Holden， et al.， Chem. Mater.， 2018.

8. Padamati， Angelone， et al.， JACS， 2017

9. Mortensen， Seidler， et al.， Phys Rev B， 2017.

10. Valenza， Jahrman， et al.， Phys Rev A， 2017

11. Mortensen， Seidler， et al.， XAFS16 conference proceedings.

12. Seidler， Mortensen， et al.， XAFS16 conference proceedings.

13. Seidler， Mortensen， et al.， Rev. Sci. Instrum. 2014.