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儀器簡(jiǎn)介：

ZSX PrimusII是理學(xué)公司**奉獻(xiàn)的上照射式X射線熒光光譜儀，是材料分析與評(píng)價(jià)的好幫手。

ZSX PrimusII是波長(zhǎng)色散掃描式熒光光譜儀，分析精度高。

可以對(duì)4Be到92U進(jìn)行定性、定量分析。

元素的檢量范圍從0.0001% ~ 100%，如進(jìn)行前處理，可以再下降2 ~ 3個(gè)數(shù)量級(jí)。

可以分析材料的狀態(tài)包括：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。

可以分析材料的領(lǐng)域包括：電子和磁性材料、化學(xué)工業(yè)、陶瓷及水泥工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、非鐵合金、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油和煤、環(huán)境保護(hù)。

技術(shù)參數(shù)

X射線發(fā)生器部分

X射線管：端窗式Rh靶 4kW或3kW

高壓發(fā)生器：高頻變頻方式

額定電壓，電流：4kW，60kV-150mA

穩(wěn)定度：±0.005%(對(duì)電源±10%變化時(shí))

冷卻水：水冷冷卻水(內(nèi)置)

分光部部分

樣品交換器：可以選擇12，24，36，48樣品交換器

樣品尺寸：φ51mmx40mm(H)

分析樣品面：**φ35mm

樣品旋轉(zhuǎn)：30rpm

1次X射線濾波片：4種(Al，Ti，Cu，Zr)

視野限制光闌：6種自動(dòng)交換機(jī)構(gòu)(φ35，30，20，10，1，0.5 mm)

發(fā)散狹縫：3種自動(dòng)交換機(jī)構(gòu)(標(biāo)準(zhǔn)分辨率、高分辨率、超輕元素用(選件)

接收狹縫：SC用，F(xiàn)-PC用

測(cè)角儀：θ-2θ獨(dú)立驅(qū)動(dòng)

測(cè)角范圍：SC、5°-118°， F-PC、13°-148°

**掃描速度：1400°/min(2θ)

連續(xù)掃描：0.1-240°/min

晶體交換機(jī)構(gòu)：10分光晶體自動(dòng)交換機(jī)構(gòu)

分光晶體：(標(biāo)準(zhǔn))LiF(200)、Ge、PET、RX25

(選件)LiF(220)、RX4、RX9、RX35、RX40、RX45、RX61、RX75、RX80、RX61F、TAP

真空排氣系統(tǒng)：雙真空室高速排氣系統(tǒng)(雙真空泵)

粉末樣品附件(選件)

氦氣置換機(jī)構(gòu)(選件)：帶隔板

恒溫化機(jī)構(gòu)：36.5度

記數(shù).控制部分：

重元素用：SC閃爍計(jì)數(shù)管，記數(shù)線性1000kcps

輕元素用：F-PC流氣比例計(jì)數(shù)管，記數(shù)線性2000kcps

芯線加熱自動(dòng)清洗機(jī)構(gòu)

衰減器：IN-OUT自動(dòng)切換(衰減率1/10)

計(jì)算機(jī)：windows PC

軟件：

定性分析：自動(dòng)鑒定分析功能，包括平滑，扣背景

定量分析：檢量線法

JIS法

各種基體校正

無標(biāo)樣分析法

EZ掃描，應(yīng)用模板，

樣品徑自動(dòng)選擇

譜峰分離

定精度測(cè)試

E-mail傳送功能，多功能標(biāo)準(zhǔn)樣品

其它選件

維護(hù)功能:

自動(dòng)PHA調(diào)整(PAS)

全自動(dòng)芯線清洗

自動(dòng)老化

自動(dòng)診斷

遠(yuǎn)程診斷

主要特點(diǎn)：

1、 大幅度提高了超輕元素(B，C)的分析靈敏度、準(zhǔn)確度

使用理學(xué)**的強(qiáng)度**的分光晶體RX-25，RX-61，RX-75，保證輕元素分析的靈敏度

采用APC自動(dòng)真空控制機(jī)構(gòu)，保證超輕元素分析的準(zhǔn)確度(理學(xué)**)

使用4KW 30um超薄窗、超尖銳、長(zhǎng)壽命X光管，*適合超輕元素分析

2、 采用新光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)重元素的高靈敏度分析

3、 強(qiáng)大的粉末樣品測(cè)試功能

上照式，可以長(zhǎng)時(shí)間防止粉末污染分光室

雙泵、雙真空設(shè)計(jì)(樣品室/預(yù)抽真空室)，防止粉末樣品的細(xì)微粉塵混入分光室

粉末附件，采用電磁閥真空密封，防止細(xì)微粉塵進(jìn)入真空泵內(nèi)

4、 加裝CCD視頻攝像機(jī)構(gòu)，位置分辨率可達(dá)100um，可以進(jìn)行0.5mm的微區(qū)分析，可以測(cè)量Mapping(理學(xué)**)

5、 提高少量樣品的分析準(zhǔn)確度

使用r-θ樣品臺(tái)(理學(xué)**)，徹底解決了X射線照射不均以及分光晶體強(qiáng)度不均的問題，保證樣品在X射線*強(qiáng)、**條件下測(cè)量。

6、 樣品室與分光室之間有專用隔膜裝置

7、 48位自動(dòng)進(jìn)樣器

8、 PAS自動(dòng)調(diào)整脈沖高度系統(tǒng)(理學(xué)**)

ACC自動(dòng)清洗F-PC芯線系統(tǒng)(理學(xué)**)

可以保證儀器在**狀態(tài)下使用

9、 節(jié)約能源(自動(dòng)減少X射線管的輸出)；節(jié)約PR-10氣體；節(jié)約He氣(選用He室時(shí))；節(jié)省空間

10、 自動(dòng)監(jiān)控、自動(dòng)開關(guān)機(jī)、自動(dòng)節(jié)能等多功能操作軟件

11、 先進(jìn)的軟件分析，NEW SQX軟件

12、 全中文界面