
成都精新粉體測試設(shè)備有限公司

已認(rèn)證
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(1) 激光法:優(yōu)點(diǎn):操作簡便,測試速度快,測試范圍大,重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,可實(shí)現(xiàn)在線測量和干法測量。缺點(diǎn):結(jié)果受分布模型影響較大,儀器造價(jià)較高。
(2) 動態(tài)圖像法:由顯微鏡、高速攝像機(jī)、樣品分散系統(tǒng)、控制系統(tǒng)以及高速圖像分析軟件組成。優(yōu)點(diǎn):顆粒圖像直觀清晰,操作簡便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,可干法也可濕法,可測量最大顆粒,可進(jìn)行圓形度、長徑比等形貌分析。缺 點(diǎn):分析細(xì)顆粒(如-2 μm )圖像不清晰,誤差較大,成本較高。
(3) 靜態(tài)圖像法:由顯微鏡、攝像機(jī)和圖像分析軟件組成。優(yōu)點(diǎn):成本較低,操作簡單,圖像清晰、可進(jìn)行圓形度、長徑比等形貌分析。缺點(diǎn):分析速度慢,無法分析細(xì) 顆粒(如-2 μm )。
(4) 電鏡法:用電子顯微鏡(掃描電鏡或透射電鏡)拍攝顆粒圖像,然后再進(jìn)行圖像 分析的方法。優(yōu)點(diǎn):能精確分析納米顆粒和超細(xì)顆粒,圖像清晰,表面紋理可見,分辨率高,是表征納米材料粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法。缺點(diǎn):單幅圖像中的顆粒數(shù)少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。
(5) 光阻法:優(yōu)點(diǎn):測試速度快,可測液體或氣體中顆粒數(shù),分辨力高,樣品用量少。缺點(diǎn):進(jìn)樣系統(tǒng)比較復(fù)雜,不適用粒徑<1μm 的樣品。
(6) 電阻法:優(yōu)點(diǎn):操作簡便,可測顆粒數(shù),等效概念明確,速度快,準(zhǔn)確性好。缺點(diǎn):不適合測量超細(xì)樣品和寬分布樣品,更換小孔管比較麻煩。
(7) 沉降法:優(yōu)點(diǎn):操作簡便,儀器可以連續(xù)運(yùn)行,價(jià)格較低,準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好,測試范圍較大。缺點(diǎn):測試時(shí)間較長,操作較復(fù)雜,結(jié)果易受環(huán)境因素影響。
(8) 篩分法:優(yōu)點(diǎn):簡單、直觀、設(shè)備造價(jià)低,常用于大于 38 μm (400 目)的樣品。缺點(diǎn):不能用于超細(xì)樣品;結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
(9) 動態(tài)光散射法:動態(tài)光散射法是測試納米材料粒度分布的常用方法。首先將納米顆粒放到合適的液體(通常為純凈水)中制成懸浮液,懸浮液中的納米顆粒由于受到 水分子熱運(yùn)動(布朗運(yùn)動)的碰撞而進(jìn)行不規(guī)則運(yùn)動。當(dāng)一束水平偏振的激光照射到這些顆粒上時(shí),會在引起的散射光強(qiáng)的瞬間變化。這些瞬間變化的散射光信號的幅度、頻率等特征與顆粒大小有關(guān),對這些信號進(jìn)行相關(guān)運(yùn)算就可以得到呢米顆粒的粒度分布了。優(yōu)點(diǎn):測試范圍寬(從納米到微米)、測試速度快,重復(fù)性好,操作簡便。缺點(diǎn):測試寬分布的納米材料誤差及較大。
(10)超聲波法:優(yōu)點(diǎn):可對高濃度漿料直接現(xiàn)場測量,無需取樣。缺點(diǎn):分辨率較低,準(zhǔn)確性和重復(fù)性較差,結(jié)果受環(huán)境因素影響較大。
(11)透氣法(費(fèi)氏法):優(yōu)點(diǎn):儀器價(jià)格低,不用對樣品進(jìn)行分散,可直接測量干粉,可測磁性材料粉體。缺點(diǎn):只能得到平均粒度值,不能測粒度分布。
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