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歐美克納米粒度及電位分析儀是珠海歐美克儀器有限公司在成功引進(jìn)和吸收國(guó)外先進(jìn)納米顆粒表征技術(shù)后，在原納米粒度分析儀基礎(chǔ)上進(jìn)一步增加Zeta電位測(cè)試功能而推出的新一款產(chǎn)品。它具有優(yōu)越的粒度和電位分析功能，能滿足廣大納米材料、制劑開發(fā)和生產(chǎn)用戶的顆粒粒度和表面電位的測(cè)試需求。

該儀器融合M3-PALS相位分析檢測(cè)技術(shù)，采用進(jìn)口雪崩式光電二極管（APD）檢測(cè)器和He-Ne氣體激光器等，加上精確的內(nèi)部溫控技術(shù)、密閉光纖光路以及先進(jìn)軟件算法，保障了數(shù)據(jù)的高重復(fù)性、準(zhǔn)確性和靈敏度。

▲ 歐美克納米粒度電位分析儀

▲ 電位測(cè)樣準(zhǔn)備

在生物醫(yī)藥、尖端高分子材料等行業(yè)，對(duì)儀器的需求不僅僅是優(yōu)越的檢測(cè)性能，同時(shí)還要求檢測(cè)儀器的設(shè)計(jì)制造及使用符合諸多行業(yè)管理規(guī)范和相關(guān)法規(guī)。針對(duì)這些高端需求，歐美克納米粒度及電位分析儀除了在儀器硬件品質(zhì)上追求精益求精，在軟件功能及行業(yè)法規(guī)適配上也表現(xiàn)突出。

眾所周知，2015年CFDA正式發(fā)布了GMP法規(guī)的新附錄之一《計(jì)算機(jī)化系統(tǒng)》,它已作為正式的法規(guī)于2015年起執(zhí)行。國(guó)內(nèi)外GMP法規(guī)有許多差異，而對(duì)計(jì)算機(jī)化系統(tǒng)的要求差異尤為明顯。CFDA新頒布的《計(jì)算機(jī)化系統(tǒng)》法規(guī)附錄是國(guó)內(nèi)法規(guī)與國(guó)際接軌的重要一步，將填補(bǔ)國(guó)內(nèi)對(duì)于計(jì)算機(jī)化系統(tǒng)要求的法規(guī)空白，是實(shí)現(xiàn)與國(guó)際法規(guī)監(jiān)管機(jī)構(gòu)之間相互認(rèn)可的前提條件之一。

面對(duì)《計(jì)算機(jī)化系統(tǒng)》法規(guī)附錄要求，在全面仔細(xì)的研究相關(guān)規(guī)范條款后，歐美克納米粒度及電位分析儀軟件系統(tǒng)做了專項(xiàng)設(shè)計(jì)。

GMP法規(guī)提出計(jì)算機(jī)化系統(tǒng)驗(yàn)證要求。以往，大部分的制藥企業(yè)不對(duì)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行驗(yàn)證，或僅進(jìn)行最簡(jiǎn)單的確認(rèn)。這則法規(guī)發(fā)布以后，明確對(duì)所有的國(guó)內(nèi)制藥企業(yè)提出進(jìn)行計(jì)算機(jī)化系統(tǒng)驗(yàn)證的要求，為計(jì)算機(jī)化系統(tǒng)驗(yàn)證提供了法規(guī)依據(jù)。

針對(duì)該項(xiàng)要求歐美克納米粒度及電位分析儀軟件系統(tǒng)升級(jí)至2.0ver，加入了完整的系統(tǒng)監(jiān)控、審計(jì)追蹤、數(shù)據(jù)保護(hù)等相關(guān)模塊。

該模塊屬于增值軟件模塊，需要獲得授權(quán)才能使用。開通方法如下：

▲ 軟件未授權(quán)狀態(tài)

首先將歐美克納米粒度及電位分析儀軟件升級(jí)到2.0以上版本，在“Tools”菜單中找到“options”單擊“options”并點(diǎn)選“Feature Keys”，用戶將看到如下界面選項(xiàng): 

▲ 授權(quán)過程(1)

在下拉菜單中選擇“ER/ES Features（21CFR Part 11）”選項(xiàng)，輸入由歐美克提供的“Licence key”,隨后點(diǎn)擊“Install licence”

▲ 授權(quán)過程(2)

至此，符合GMP法規(guī)附錄《計(jì)算機(jī)化系統(tǒng)》的功能被開通啟用，測(cè)試軟件右下方的“21CFR”和“FEATURES”圖標(biāo)被點(diǎn)亮。

▲ 軟件獲得授權(quán)后狀態(tài)

開通歐美克納米粒度及電位分析儀測(cè)試軟件的“ER/ES  Features”模塊，首先滿足了下述數(shù)據(jù)合規(guī)性要求：

訪問控制：只有經(jīng)許可的人員才能進(jìn)入和使用系統(tǒng)。

權(quán)限設(shè)置：應(yīng)當(dāng)對(duì)進(jìn)入和使用系統(tǒng)制訂授權(quán)、取消和授權(quán)變更的操作規(guī)程。

數(shù)據(jù)完整性：是指數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性，用于描述存儲(chǔ)的所有數(shù)據(jù)值均處于客觀真實(shí)的狀態(tài)。

審計(jì)追蹤：有一系列有關(guān)計(jì)算機(jī)操作系統(tǒng)、應(yīng)用程序及用戶操作等事件的記錄，用以幫助從原始數(shù)據(jù)追蹤到有關(guān)的記錄、報(bào)告或事件，或從記錄、報(bào)告、事件追溯到原始數(shù)據(jù)。

電子簽名：各類數(shù)據(jù)中加入了用于識(shí)別簽名人身份并表明簽名人認(rèn)可其中內(nèi)容的數(shù)據(jù)。

▲ 訪問控制

▲ 權(quán)限設(shè)置

▲ 審計(jì)追蹤

歐美克納米粒度及電位分析儀依照GMP規(guī)范要求，加強(qiáng)了電子數(shù)據(jù)安全性，從邏輯安全性和物理安全性兩個(gè)維度對(duì)電子數(shù)據(jù)進(jìn)行防護(hù)。

邏輯安全性方面，通過軟件自身的權(quán)限控制對(duì)數(shù)據(jù)的訪問、錄入、修改和刪除等操作，確保不被人為誤操作或有意的篡改行為而影響數(shù)據(jù)安全。

物理安全性方面，是指對(duì)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的介質(zhì)（如硬盤、光盤、服務(wù)器等）進(jìn)行保護(hù)，確保系統(tǒng)本身不會(huì)因?yàn)槲锢斫橘|(zhì)的損壞或故障造成數(shù)據(jù)丟失。（實(shí)現(xiàn)物理安全需定制、并可能需要第三方系統(tǒng)配合，詳情請(qǐng)咨詢OMEC技術(shù)支持）

▲ 邏輯安全性

作為一款具有極高性價(jià)比的納米顆粒表征儀器，歐美克納米粒度及電位分析儀不僅硬件性能表現(xiàn)優(yōu)越，軟件設(shè)計(jì)上也做了先進(jìn)而全面的開發(fā)，因此一經(jīng)上市便得到國(guó)內(nèi)外眾多高端客戶的青睞，短短幾個(gè)月時(shí)間，用戶已遍布于高分子材料、生物醫(yī)藥（包括核酸檢測(cè)、藥劑中間體和成品、疫苗研發(fā)等）、乳液、高端護(hù)膚品、墨水、新能源材料等等行業(yè)。

歐美克儀器為客戶供應(yīng)性能優(yōu)越、品質(zhì)穩(wěn)定的檢測(cè)儀器，更有專業(yè)用心的售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)隨時(shí)待命，提供及時(shí)而周到的技術(shù)支持服務(wù)。