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三維光學(xué)缺陷階差測(cè)量?jī)x品牌
GFM產(chǎn)地
德國(guó)樣本
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精確、快速、便攜
應(yīng)用領(lǐng)域:
金屬,復(fù)合材料,織物等材質(zhì)表面的劃痕,裂紋,磨損,刮擦、凹坑、鑿擊、腐蝕等表面缺陷的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)和分析;
鉚接,焊接,接縫等階差和凹凸量的三維檢測(cè);三維面粗糙度測(cè)量分析;
劃窩孔,槽深,圓弧,倒角等幾何尺寸測(cè)量;
測(cè)量原理:
德國(guó)GFM公司基于激光條紋相位投影技術(shù)和DSP高速圖像處理芯片研制的便攜式三維光學(xué)表面劃痕測(cè)量?jī)x,用于現(xiàn)場(chǎng)表面質(zhì)量特性的檢測(cè),具有測(cè)量速度快,測(cè)量準(zhǔn)確,便攜性等優(yōu)點(diǎn)。
儀器特點(diǎn):
便攜式現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)大型零件表面劃痕缺陷,階差等表面幾何特性參數(shù);
三維測(cè)量表面劃痕缺陷,通過拓?fù)渖顖D直觀檢測(cè)出劃痕缺陷較深的部位;
專業(yè)的劃痕測(cè)量分析軟件,多種濾波方式:包含了多項(xiàng)式濾波,高斯濾波,均值濾波等,有效消除曲面輪廓,傾斜,噪音信號(hào),毛刺,灰塵等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響;
大傾角光路設(shè)計(jì),以及藍(lán)光LED光源,測(cè)量不受高反光曲面的影響;
SDK軟件包,開放儀器接口,可二次開發(fā);
儀器附件
技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍X/Y/Z: | 13X8X5 mm |
測(cè)量示值誤差: | (2+L/1000)μm; L單位μm |
深度方向分辨力: | 1um |
聚焦距離: | 107mm |
測(cè)量掃描時(shí)間: | 3秒;掃描點(diǎn)云:36萬點(diǎn)/幅 |
使用環(huán)境溫度: | 5-40°C |
符合國(guó)標(biāo)校準(zhǔn)規(guī)范的計(jì)量校準(zhǔn)溯源 |
暫無數(shù)據(jù)!
一.觸摸屏導(dǎo)電銀漿電容式觸摸屏是通過測(cè)量各電極之間的電容量的變化來確定觸控點(diǎn)的位置。當(dāng)手指觸摸到屏?xí)r,手指和屏表面之間形成一個(gè)耦合電容,手指將從接觸點(diǎn)吸走一部分電流,通過觸摸屏導(dǎo)電銀漿制成的導(dǎo)電線路將
2025-06-04
隨著現(xiàn)代觸控技術(shù)的不斷進(jìn)步,未來觸控面板將往大尺寸化、低價(jià)化,可彎曲折疊化方向發(fā)展。傳統(tǒng)ITO薄膜由于存在導(dǎo)電性差、成本昂貴、不可彎曲等本質(zhì)問題而發(fā)展受限。金屬網(wǎng)格工藝技術(shù)為大尺寸低電阻、窄邊框提供了
2025-06-04
MLCC(Multi-layer Ceramic Capacitors)是片式多層陶瓷電容器英文縮寫。是由印好電極(內(nèi)電極)的陶瓷介質(zhì)膜片以錯(cuò)位的方式疊合起來,經(jīng)過一次性高溫?zé)Y(jié)形成陶瓷芯片,再在芯片
2025-06-04
LISICO 樂思科 分散均質(zhì)分析測(cè)試儀 LS-1 產(chǎn)品介紹:是一款用于測(cè)試懸浮液顆粒濕式比表面積的專用核磁儀器,可評(píng)價(jià)粒懸浮態(tài)液體的顆粒與溶劑之間的表面化學(xué)、親和性、潤(rùn)濕性。配有專業(yè)的比表面積
2025-06-04
在材料加工領(lǐng)域,分散是確保最終產(chǎn)品質(zhì)量均一、性能穩(wěn)定的關(guān)鍵前置步驟。傳統(tǒng)分散設(shè)備比如攪拌機(jī),低速分散機(jī)等,在效率、分散粒度及批次穩(wěn)定性上常面臨挑戰(zhàn),而TRILOS連續(xù)分散均質(zhì)機(jī)憑借其獨(dú)特設(shè)計(jì)與先進(jìn)技術(shù)