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BKZEM-3電阻率/溫差電動勢測試系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：塞貝克系數(shù)，半導體，熱電材料

BKZEM-3電阻率/溫差電動勢測試系統(tǒng)可用于對于半導體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。

熱力發(fā)電是一種通過熱電效應材料產(chǎn)生電力的方法，由J.T.Seebeck德國物理學家在1821年發(fā)現(xiàn)的。面對當前的全球由二氧化碳排放以及化學材料消耗而導致的溫室效應，熱電轉(zhuǎn)變器件引起了注意，因為可以有效利用余熱。為了迎合這種急迫的需求公司為這些材料和器件開發(fā)了特性評估裝置。

+  擁有溫度精確控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器；

+  測量是由計算機控制的，并且能夠在指定的溫度下執(zhí)行測量，并允許自動測量消除背底電動勢；

+  歐姆接觸自動檢測功能（V-I圖）；

+  可以用適配器來測量薄膜；

+  可定制高阻型。

測試原理：

樣品以圓柱形或方柱的形式垂直放置在加熱爐中的上塊和下塊之間。通過下塊中的加熱器給樣品施加溫度梯度，同時將樣品加熱并保持在規(guī)定的溫度。塞貝克系數(shù)的測量是通過測量壓在樣品側(cè)面的熱電偶上的上部和下部T1，T2與熱電偶一側(cè)的同一股線之間的熱電動勢dE來確定的。
電阻測量采用直流四端法，通過在樣品兩端施加恒定電流I，測量熱電偶同一元件線之間的電壓降dV，并去除引線之間的熱電動勢來確定。

電阻測量系統(tǒng)可實現(xiàn)對金屬或半導體材料的熱電性能的評估。作為ZEM的特點，塞貝克系數(shù)（seebeck）和電阻都可以用一種儀器來測量。該系統(tǒng)可用于對于半導體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。

主要技術(shù)參數(shù)：

溫度范圍：  室溫-600℃，800℃ ，1000℃多種范圍可選擇

溫度設定范圍:測溫步數(shù)和溫度采樣測量步數(shù)：**125步

測量方法 :溫差電動勢：靜態(tài)直流法

電阻率：四電極法

氣氛: 氬氣或氮氣

樣品尺寸:2~4 mm正方形或直徑2~4 mm，長6~22 mm（**）

導線間距:4，6，8 mm

電源供應:200 VAC，單相，40 A（M8，M10規(guī)格）

100 VAC，單相，20 A（L規(guī)格，M8和M10規(guī)格）

冷卻水需求:自來水,水壓大于1.5 kgf/cm²,流量大于7 L/min

樣品溫差：MAX.50℃ 

測量方式：電腦全自動測量