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SM303 TE薄背式CCD 光譜儀
科研級高性能
極低的暗噪聲和雜散光
寬的動態(tài)范圍和高的信噪比
高紫外量子效率
靈活的光纖輸入直接到狹縫或通過光纖
廣泛的應用設計
高速數(shù)據(jù)采集
標準設計允許*多200-1050nm范圍
應用:
光譜產(chǎn)品將提供新的SM303 TE致冷薄型背照式1024像素的CCD陣列光譜儀。
SM303是理想的UV / VIS/ NIR光譜法，需要非常高的信噪比和/或高動態(tài)范圍，像熒光，拉馬，LED特性測試的應用程序。的薄型背照式CCD具有在紫外線極好的靈敏度并允許深UV應用。精心設計的外殼使為從200納米到1050nm（較小的測量窗口尺寸增加光譜分辨率和光敏感）具有非常低的雜散光850nm的測量窗口。的TE制冷detecor也有助于通過減少在長積分時間的噪聲電平來測量非常低的光信號。
高動態(tài)范圍和低噪音的SM303也是理想的輻射測量應用選擇。
標準接口SM303-Si是16位在USB 1.1/2.0兼容接口。軟件支持包括SDK和DLL的專用應用程序的開發(fā)，我們的SM32Pro基于Windows的光譜采集和分析軟件。
軟件:
SM32Pro - 視窗95，2000，XP，7的軟件（支持32位和64位）進行數(shù)據(jù)采集和分析透射率，反射率，和吸光度測量
數(shù)據(jù)導出，放大和縮小，頻譜覆蓋，還有更多的功能
包括彩色分析工具
信號平均和積分時間控制
可在DOS和Windows用戶方便的軟件開發(fā)DLL庫
用VC+ + / VB/ Labview的例子
暫無數(shù)據(jù)！
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