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SGW X-4數(shù)字熔點(diǎn)儀
技術(shù)參數(shù)：
SGW X-4數(shù)字熔點(diǎn)儀主要技術(shù)參數(shù)：
熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性：±1℃（在≤200℃時(shí)） ±2℃（在200-300℃時(shí)）
光學(xué)放大倍數(shù)：目鏡：10X，物鏡：4X
主要特點(diǎn)：
SGW X-4數(shù)字熔點(diǎn)儀特點(diǎn):
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。
用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片——蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。
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