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顆粒在體系的存在是非常復雜和多變的。為了準確掌握顆粒的形態(tài)，視頻觀察成為基本的要求。PIA系統(tǒng)配以專業(yè)的軟件（觀察記錄和分析軟件），可以真實的將體系狀態(tài)呈現給研究者。同時可將PAT（在線粒度）和PIA（視頻）結合在一起，提供更多信息。

我們的用戶包括

Siemens 、Sasol 、Altana 、Sanofi - Aventis 、Hexion 、Federal - Mogul 、Degussa 、Modcom 、Zentaris 、Hebold

等等知名企業(yè)，國內企業(yè)包括中石化、中石油等科研單位

技術參數：

ICH（內置CCD）和EAC兩中模式 （外置CCD）

粒度范圍： 10 --500 um （或更大）

視野范圍：8.0 x 6.0 mm / 10.0 x 7.5 mm （標準產品）

分辨率 10um （標準產品）

爆光時間： 5--10us

幀速率：25幀/秒 / 平均 15幀/秒

像素：黑白，逐行掃描 30萬，**500萬像素

溫度范圍：-20 --125C （可選更高）

采制：哈氏合金、化學拋光藍寶石

體系濃度v% <80 ，和測量范圍相關

可與粒度傳感器合二為一

IVM觀察軟件 -- 實時圖像以攫取 和 PIA分析軟件可選擇

分析軟件功能包括

8 / 10bit

實時壓縮視頻存儲時間

手動和自動工具

增強

分析

實時查看

在線測量

在線的照明控制

報告生成

MS Excel的界面

圖像增強

對比過濾

清晰化

輪廓增強

降噪

圖像分析

PSD（形狀和大?。?

污染消除

趨勢分析

檢測異常

主要特點：

實際上，在一個體系中的顆粒，只有很少數是真正的球形的，大多數顆粒都是以不規(guī)則的形狀出現在體系中。那么如何知道顆粒是以什么方式存在，粒度的大小并不是**，而PIA以 “ 眼見為實 ”的方式，將顆粒的形狀呈現在研究者面前，讓您準確判斷顆粒的狀態(tài)，如；篩數據是否真實 、伸長率的關系、凹陷和球形的關系、結晶率、 磨損評價、衛(wèi)星結構評價、孔，槽等、顆粒破碎的評價等等

PIA 粒子形態(tài)分析系統(tǒng)是基于模塊化攝像系統(tǒng)和光學像素分辨率評估現有的離散粒子和晶體在體系的濃度和形態(tài)，廣泛應用在實驗室和管道上。其主要特點為：

直接成像

出色的圖像質量

背光照明：

高對比度

精確的定量信息

夾雜物檢測

小線探針

腐蝕環(huán)境

防爆ATEX

重要應用在：催化劑的表面特性 、調查/晶體形狀控制 、形成/粒子核 、粒狀晶體、醫(yī)藥中間體、樹脂和微膠囊 等領域