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產(chǎn)品概述
§ 結(jié)合StepWave™離子光學(xué)組件和XS碰撞室技術(shù)，保持著一如既往的良好選擇性，同時(shí)帶來(lái)靈敏度的顯著提升。
§ 長(zhǎng)時(shí)分析期間，關(guān)鍵的硬件組件可持久保持潔凈，為您提供更重現(xiàn)性的結(jié)果，保證實(shí)驗(yàn)室生產(chǎn)效率。
§ 分析大量樣品時(shí)，可獲取比以往更多、更有意義的組分信息，幫助您全面深入了解樣品，制定更可靠的決策。
§ 本系統(tǒng)可在短時(shí)間內(nèi)收集充分了解樣品所需的詳盡、準(zhǔn)確的各目標(biāo)組分定性及定量信息，完整展現(xiàn)出現(xiàn)代分離技術(shù)的優(yōu)勢(shì)。
優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)：
§ 保證**性能的同時(shí)**化提升穩(wěn)定性
§ 通用離子源結(jié)構(gòu)
通用型離子源結(jié)構(gòu)可以將單一分析平臺(tái)用于多種不同應(yīng)用和化合物類型，并可以根據(jù)需求和優(yōu)先情況的變化添加新的功能。所有離子源選件都設(shè)計(jì)為可快速互換，并在數(shù)分鐘內(nèi)即可使用。
§ 高穩(wěn)定性
當(dāng)樣品中不同組分的濃度相差很大時(shí)，仍需根據(jù)峰面積和精確質(zhì)量數(shù)準(zhǔn)確測(cè)定每種成分。
§ 全面的定性和定量信息
利用Xevo G2-XS Tof，您可以快速輕松地設(shè)計(jì)出一個(gè)實(shí)驗(yàn)，無(wú)論是否進(jìn)行色譜分離，都可為每種可檢測(cè)組分收集精確質(zhì)量數(shù)母離子和碎片離子數(shù)據(jù)。
配置
離子源 | ESI、ESCi®、APCI、APPI、APGC、ASAP和 ionKey/ MS™ |
啟動(dòng)軟件 | IntelliStart |
數(shù)據(jù)采集 | UPLC/MSE |
碰撞室 | XS碰撞室 |
暫無(wú)數(shù)據(jù)！
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