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TE致冷CCD光譜儀

Glacier™ X是高性能的TE致冷線陣CCD光譜儀。與非致冷的CCD光譜儀相比，Glacier™ X可以提供更高的動(dòng)態(tài)范圍，更顯著的降低光譜儀的噪聲，更優(yōu)異的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，更適合微光檢測(cè)和長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)監(jiān)測(cè)等應(yīng)用。它的低檢測(cè)波長(zhǎng)可達(dá)200nm，高可達(dá)1050nm。根據(jù)不同的配置，光譜分辨率0.6-4.0nm可選。靈活的配置及完備的應(yīng)用支持，使其成為眾多的微光檢測(cè)、長(zhǎng)時(shí)間光譜檢測(cè)應(yīng)用需求的理想選擇。

Glacier™ X采用2048像元檢測(cè)器，內(nèi)建16位數(shù)字轉(zhuǎn)換，高速USB2.0即插即用數(shù)據(jù)接口。

B&W Tek提供靈活的配置以滿足不同的光譜分析應(yīng)用需求OEM客戶的特殊要求。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

• 紫外-近紅外波段

• 0.6nm - 4.0nm 光譜分辨率

• TE致冷/控溫

• 16位數(shù)字轉(zhuǎn)換

• 500 kHz 讀出速度

• 即插即用USB 2.0數(shù)據(jù)傳輸

• 提供OEM版本

應(yīng)用：

• 紫外可見近紅外 光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析及應(yīng)用

• 長(zhǎng)積分檢測(cè)

• 吸光度測(cè)量

• 反射率測(cè)量