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NPFLEX 三維表面測量系統(tǒng)

針對大樣品設(shè)計的非接觸測試分析系統(tǒng)

靈活測量大尺寸、特殊角度的樣品

高效的三維表面信息測量

垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)

快速獲取測量數(shù)據(jù)，測試過程迅速高效

• 創(chuàng)新性的空間設(shè)計使得可測零件（樣品）更大、形狀更多
• 開放式龍門、客戶定制的夾具和可選的搖擺測量頭可輕松測量想測部位

高效的三維表面信息測量

• 每次測量均可獲得完整表面信息，并可用于多種分析目的
• 更容易獲得更多的測量數(shù)據(jù)來幫助分析

垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)

• 干涉技術(shù)實現(xiàn)每一個測量象素點上的亞納米級別垂直分辨率
• 工業(yè)界使用多年業(yè)已驗證的干涉技術(shù)提供具有統(tǒng)計意義的數(shù)據(jù)，為日漸苛刻的加工工藝提供保障

測量數(shù)據(jù)的快速獲取保證了測試的迅速和高效

• *少的樣品準(zhǔn)備時間和測量準(zhǔn)備時間
• 比接觸法測量（一條線）更大的視場（一個面）獲得表面更多的數(shù)據(jù)

為客戶量身訂做*合適的儀器配置NPFLEX在基本配置的基礎(chǔ)上，還有很多備選的配件和配置方案，滿足不同客戶的測量需求：• 可選的搖擺測量頭可輕松測量想測的樣品部位，測量樣品的側(cè)壁、傾斜表面以及斜面邊緣，重復(fù)性好。•  獲得研發(fā)大獎的透過透明介質(zhì)測量模塊(Through Transmissive Media，TTM)模塊，，結(jié)合環(huán)境測試腔，可以穿透5cm厚的色散材料，可對樣品進(jìn)行加熱或者冷卻，進(jìn)行原位測量。•可選的折疊鏡頭能夠測量碗狀樣品的側(cè)壁和底部孔洞。納米級分辨率的三維表面信息測量  大家對很多樣品的表面性質(zhì)感興趣，但是要獲得這些品性質(zhì)，需要檢測大量的樣品表面定量信息。許多應(yīng)用在航空航  天，汽車，醫(yī)療植入產(chǎn)業(yè)的大尺寸樣品，往往只能借助于二維接觸式檢測工具進(jìn)行表征，獲得的只是一條線測量數(shù)據(jù)。二維掃描能夠提供樣品的表面輪廓，但是無法深入研究樣品表面更精確的紋理細(xì)節(jié)信息。NPFLEX測試系統(tǒng)采用白光干涉原理，在每一個測量點可以實現(xiàn)表面形貌的三維信息收集，且具有亞納米級的垂直分辨率。所收集的數(shù)據(jù)不受探針曲率半徑的局限，高效的三維表面信息測量可獲取除表面粗糙度以外的多種分析結(jié)果，更多的測量數(shù)據(jù)來幫助分析樣品性質(zhì)。     快速獲取數(shù)據(jù)，保證測試迅速高效  NPFLEX三維測量系統(tǒng)，能夠靈活高效的獲取大量測試數(shù)據(jù)。大大縮短了樣品制備時間和測量方案設(shè)置時間，操作者可以快速更換樣品，而且無需全面掌握樣品形狀和表面形貌的前提下，對樣品的不同表面進(jìn)行測量。僅需要不到15秒的時間，就可以出色地完成一個測量點的數(shù)據(jù)采集和分析工作。自動對焦，光強(qiáng)調(diào)節(jié)以及其他配套軟件功能，大大節(jié)約了測試分析時間，而且可以根據(jù)操作者的實驗需求，量身定做**化的實驗方案，而不影響數(shù)據(jù)的精度和質(zhì)量。利用NPFLEX可以高效、快捷、靈活、準(zhǔn)確地獲得大型零部件的高精度測量結(jié)果，提供一站式的測量解決方案。      布魯克納米表面儀器部開通優(yōu)酷視頻專輯  Bruker Nano Surfaces YouKu Channel— 歡迎訂閱優(yōu)酷上Bruker Nano Surfaces的相關(guān)視頻，觀看**的AFM產(chǎn)品和相關(guān)技術(shù)進(jìn)展，以及歷屆網(wǎng)絡(luò)研討會和培訓(xùn)資料，精彩內(nèi)容持續(xù)更新中！  布魯克納米表面儀器部 Bruker Nano Surfaces 北京辦公室北京市海淀區(qū)中關(guān)村南大街 11號光大國信大廈6層 6218室電話：010-68474806 -630 傳真：010-88417855上海辦公室上海市徐匯區(qū)漕河涇開發(fā)區(qū)桂平路 418號新園科技廣場 19樓E-mail：Sales.asia@br*************產(chǎn)品咨詢熱線：400-89****** \SOM