掃描電鏡原位拉伸試驗(yàn)

一、用于掃描電鏡的原位拉伸臺(tái)產(chǎn)品概述

p原位加載，保證樣品中心變形區(qū)在視場(chǎng)中心

p微型化設(shè)計(jì)，尺寸可定制，滿足載物臺(tái)重量需求

p空間布局合理，同時(shí)達(dá)到二次電子和能譜的成像條件

p適配部分SEM、OM、AFM、STM，通過導(dǎo)電底座固定于電鏡內(nèi)部

p進(jìn)口高精度載荷傳感器、位移傳感器

p商業(yè)化的完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的控制器、驅(qū)動(dòng)器，可擴(kuò)展性極強(qiáng)

p拉伸、蠕變、松弛、疲勞以及自定義試驗(yàn)

IBTC-300MINI型 IBTC-2000/5000MINI型

二、用于掃描電鏡的原位拉伸臺(tái)核心技術(shù)

p商業(yè)化的完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的多軸材料力學(xué)測(cè)試軟件

p可實(shí)現(xiàn)位移、載荷、應(yīng)變和應(yīng)力的閉環(huán)控制方式

p滿足正弦波、三角波和自定義復(fù)雜波形的加載方式

p配置軟件參數(shù)，實(shí)現(xiàn)斷口保護(hù)，便于材料失效分析

p內(nèi)置模塊化試驗(yàn)流程，適用不同科研領(lǐng)域人員操作

p軟件功能持續(xù)更新，可根據(jù)客戶需求定制試驗(yàn)動(dòng)作

三、用于掃描電鏡的原位拉伸臺(tái)設(shè)備技術(shù)參數(shù)

四、用于掃描電鏡的原位拉伸臺(tái)應(yīng)用案例

與蔡司EVO MA15型掃描電子顯微鏡聯(lián)用

（1）試樣：

•某導(dǎo)電高分子薄膜；

•單邊缺口試驗(yàn)，拉伸試驗(yàn)，研究裂紋擴(kuò)展行為；

•SEM下高倍率在線觀測(cè)，裂尖形貌如下；

•用戶：天津大學(xué)、中國(guó)航發(fā)商發(fā)集團(tuán)。

使用凱爾產(chǎn)品進(jìn)行SEM在線裂紋擴(kuò)展試驗(yàn)

（某導(dǎo)電薄膜的裂紋實(shí)時(shí)錄像）

（2）操作過程

裝夾試樣

與SEM腔體安裝

內(nèi)部試驗(yàn)機(jī)位置

內(nèi)部試驗(yàn)機(jī)位置

聯(lián)用操作

【案例1】裂紋端照片——原位SEM&SENT試驗(yàn)

•某導(dǎo)電膠薄膜的原位SEM拉伸試驗(yàn)

•探究導(dǎo)電膠薄膜裂紋端的微觀形貌變化

•該設(shè)備為研究導(dǎo)電膠薄膜的斷裂機(jī)理提供了條件

【案例2】燃料電池用質(zhì)子交換膜——原位SEM&拉伸試驗(yàn)

•探究復(fù)合材料膜拉伸過程中增強(qiáng)纖維層的作用

•上圖為試驗(yàn)獲取的0~10%應(yīng)變率下的表面形貌照片

•為探究中間纖維層的增強(qiáng)作用機(jī)理提供了條件