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Ultim Max TEM，搭載于透射電子顯微鏡(TEM)主要用于納米尺度成分分析和元素面分布分析。
全新設(shè)計(jì)80mm2的傳感器，進(jìn)一步接近樣品并提供更多的x射線計(jì)數(shù)。UltimMax TEM結(jié)合了無(wú)窗設(shè)計(jì)和低噪音電子元器件 , 為 200kV下EDS分析提供高質(zhì)量數(shù)據(jù)。
· 0.2 - 0.6 srad的立體角
· 對(duì)低能量x射線的靈敏度可提高8倍
· 可在400,000cps的計(jì)數(shù)率下進(jìn)行定量分析
· 在原位實(shí)驗(yàn)中，可在1000°C的溫度下采集譜圖
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您是否已飽受核磁送檢排隊(duì)周期長(zhǎng)、結(jié)果反饋不及時(shí)和反應(yīng)情況無(wú)法隨時(shí)掌握的煎熬？您是否也面臨核磁教學(xué)中學(xué)生只能學(xué)習(xí)理論而無(wú)法親自實(shí)操的窘境？現(xiàn)在X-Pulse寬帶臺(tái)式核磁波譜儀可以完全解決上述問(wèn)題，儀器因
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